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Sujets Couverts
Au Sujet du Nano de Bruker
Système de NANOS SPM
Image Haute Résolution
Résultats Fiables
Tous Les Modes de Mesure de NANOS sont Disponibles
Applications
Caractéristiques de NANOS
Le Nano de Bruker fournit les produits Atomiques de Microscope de Force/de Microscope Sonde de Lecture (AFM/SPM) qui restent à l'extérieur d'autres systèmes disponibles dans le commerce pour leur design et facilité d'utilisation robustes, tout en mettant à jour le plus de haute résolution. Le chef de mesure de NANOS, qui fait partie de tous nos instruments, utilise un seul interféromètre fibreoptique pour mesurer le fléchissement en porte-à-faux, qui effectue le contrat d'installation ainsi qu'il n'est pas plus grand qu'un objectif normal de microscope de recherches.
La base solide pour la qualité de nos microscopes est une équipe de scientifique et d'ingénieurs expérimentés avec un mouvement propre de plus de 15 ans dans les affaires d'AFM.
Utilisez-vous des méthodes optiques pour l'analyse et souvent le souhait extérieurs pour un agrandissement plus élevé - 50.000 fois ou même plus haut que 500.000 fois ? Ou voulez-vous exécuter des mesures structurelles quantitatives ?
La tête de mesure de NANOS est un microscope atomique complet de force qui rapproche un objectif optique normal dans la taille et la forme. Entrez Dans le monde fascinant du nanosphere avec votre microscope dans le clin d'?il. Les ajustements de NANOS dans le nosepiece de votre microscope aiment juste un objectif optique. Il peut être adapté pour ajuster tous les types communs de microscopes (Zeiss, Leica, Nikon, Olympe).
Choisissez Simplement une zone intéressante de l'échantillon avec la méthode optique de microscopie que vous utilisez déjà, et pivotez alors dans le NANOS pour un examen direct avec le SPM. En quelques minutes, vous obtiendrez une image haute résolution qui peut être encore évaluée avec notre logiciel à traitement d'images, le logiciel d'analyse puissant de données disponible avec l'électronique de SCANControl C.
Le NANOS AFM utilise un détecteur interférométrique et des détecteurs de grande précision de position : les résultats sont précis, étalonné, et quantitatif.
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Version de submersion Liquide de la tête de lecture de NANOS AFM/SPM. Le NANOS LQD peut être plongé dans un liquide et permet la mesure pratique dans une boîte de Pétri Ou assimilé. Le NANOS gauche a un domaine d'échographie 20 du µm du µm X 20, le NANOS droit a un domaine d'échographie 40 du µm du µm X 40.
Le NANOS offre la souplesse maximum. Tous Les modes de mesure de SPM peuvent être utilisés, et le système peut être facilement adapté aux applications neuves. Les modes de mesure normaux suivants sont disponibles : entrez en contact, mode de non contact, mode de contact intermittent, le contraste de phase, contraste de zone pour les caractérisations magnétiques ou électriques (MFM/EFM), modulation de force (FM), force transversale (LFM), Potentiel Extérieur de Balayage (SSPM), Résistance de Propagation (SR), la compatibilité liquide, tête de mesure metrologycompatible avec le senseur. D'Autres modes sont disponibles sur demande.
Le NANOS peut être employé pour examiner toutes les surfaces biologiques ou minérales.
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2D image des cheveux, mesurée en mode de non contact
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Rayez le profil de l'échantillon dans l'image ci-dessus
Les caractéristiques de NANOS est donnée dans la table.
| Paramètres | Caractéristiques |
| Chaîne d'Échographie | 20 µm X 20 µm du µm X 3
40 µm X 40 µm du µm X 4
80 µm X 80 µm du µm X 6
mouvement d'échographie linéarisé par matériel dans le X-Y-sens (éventuellement dans le Z-Sens) |
| Niveau sonore (z) | < 0,05 nanomètres RMS pour 20 la tête du µm NANOS, peuvent être sensiblement plus élevés selon le microscope optique |
| Exactitude Transversale | type à moins de 0,5%, lecture de boucle bloquée |
| Vitesse d'Échographie | type. 1 à 10 Hertz |
| Principe de Dépistage | interférométrie de fibre optique, niveau sonore < 0,01 nanomètres RMS |
| Extrémités | extrémités de silicium, types variés |
| Modification d'Extrémité | le réglage libèrent |
| Recherche de puissance d'entrée de Digitals. | 16 bit A/D |
| Recherche de Sortie numérique. | 16 bit D/A |
| Tension de Sortie | ± 165 V, avec 2 le µV RMS |
| Tunnels de Puissance D'entrée | maximum 8 simultanément |
| Puissances d'entrée Externes | maximum 3 avec la définition de 16 bits |
| Taille de l'image | librement sélectionable, de 128 à 4098 pixels |
| Interf d'Ordinateur. | USB |
| SYSTÈME D'EXPLOITATION | MS-WINDOWS XP®
MS-WINDOWS Vista® |
Source Bruker AXS - AFM et SPM
Pour plus d'informations sur cette source visitez s'il vous plaît Bruker AXS - AFM et SPM