Microscópio Atômico da Força de NANOS (AFM) - Sócio Ideal para Seu Microscópio Óptico por Bruker Nano

Assuntos Cobertos

Sobre Bruker Nano
Sistema de NANOS SPM
Imagem De alta resolução
Resultados Seguros
Todos Os Modos de Medição de NANOS estão Disponíveis
Aplicações
Especificações de NANOS

Sobre Bruker Nano

Bruker Nano fornece os produtos Atômicos do Microscópio da Força/do Microscópio Ponta De Prova da Exploração (AFM/SPM) que estão para fora de outros sistemas disponíveis no comércio para seus projecto e acessibilidade robustos, enquanto mantendo o mais de alta resolução. A cabeça de medição de NANOS, que é peça de todos nossos instrumentos, emprega um interferómetro original da fibra óptica para medir a deflexão do modilhão, que faz o estojo compacto da instalação assim que é não maior do que um objetivo padrão do microscópio da pesquisa.

A base firme para a qualidade de nossos microscópios é uma equipe de cientista e de coordenadores experientes com um fundo de mais de 15 anos no negócio do AFM.

Sistema de NANOS SPM

Você usa métodos ópticos para a análise e frequentemente o desejo de superfície para uma ampliação mais alta - 50.000 vezes ou mesmo mais altamente de 500.000 vezes? Ou você quer executar medidas estruturais quantitativas?

A cabeça de medição de NANOS é um microscópio atômico completo da força que aproxime um objetivo óptico normal em tamanho e a forma. Inscreva o mundo fascinante do nanosphere com seu microscópio no piscamento de um olho. Os ajustes de NANOS no nosepiece de seu microscópio apenas gostam de um objetivo óptico. Pode ser adaptado para caber todos os tipos comuns de microscópios (Zeiss, Leica, Nikon, Olympus).

Imagem De alta resolução

Escolha Simplesmente uma área interessante da amostra com o método que óptico da microscopia você já se usa, e gire sobre um eixo então no NANOS para um exame directo com o SPM. Dentro de minutos, você obterá uma imagem de alta resolução que possa mais ser avaliada com nosso software de processamento de imagem, o software de análise poderoso dos dados disponível com a eletrônica de SCANControl C.

Resultados Seguros

O NANOS AFM usa um detector interferometric e detectores da posição da precisão alta: os resultados são exactos, calibrado, e quantitativo.

Versão da imersão Líquida da cabeça de exploração de NANOS AFM/SPM. O NANOS LQD pode ser mergulhado em um líquido e permite a medida conveniente em um prato de Petri ou similar. O NANOS esquerdo tem uma escala da varredura 20 do µm do µm x 20, o NANOS direito tem uma escala da varredura 40 do µm do µm x 40.

Todos Os Modos de Medição de NANOS estão Disponíveis

O NANOS oferece a versatilidade máxima. Todos Os modos de medição de SPM podem ser usados, e o sistema pode facilmente ser adaptado às novas aplicações. Os seguintes modos de medição padrão estão disponíveis: contacte, modo do não-contacto, modo de contacto intermitente, contraste da fase, contraste do campo para as caracterizações magnéticas ou elétricas (MFM/EFM), modulação da força (FM), força lateral (LFM), Potencial De Superfície de Varredura (SSPM), Resistência de Espalhamento (SR), compatibilidade fluida, cabeça de medição metrologycompatible com sensor. Outros modos estão disponíveis a pedido.

Aplicações

O NANOS pode ser usado para inspeccionar todas as superfícies biológicas ou inorgánicas.

2D imagem de um cabelo humano, medida no modo do não-contacto

Alinhe o perfil da amostra na imagem acima

Especificações de NANOS

As especificações de NANOS são dadas na tabela.

Parâmetros Especificações
Escala da Varredura 20 µm x 20 µm do µm x 3
40 µm x 40 µm do µm x 4
80 µm x 80 µm do µm x 6
movimento tornado linear hardware da varredura no X-Y-sentido (opcionalmente no Z-Sentido)
Nível de Ruído (Z) < 0,05 nanômetros RMS para 20 a cabeça do µm NANOS, podem ser substancialmente mais altos segundo o microscópio óptico
Precisão Lateral tipicamente dentro de 0,5%, exploração do laço fechado
Velocidade da Varredura tipo. 1 a 10 Hertz
Princípio da Detecção interferometria da fibra óptica, nível de ruído < 0,01 nanômetros RMS
Pontas pontas do silicone, vários tipos
Mudança da Ponta o ajuste livra
Entrada de Digitas res. 16 bit A/D
Saída de Digitas res. 16 bit D/A
Tensão da Saída ± 165 V, com 2 µV RMS
Canais de Entrada máximo 8 simultaneamente
Entradas Externos máximo 3 com definição de 16 bits
Tamanho da Imagem livremente selecionável, 128 a 4098 pixéis
Interf do Computador. USB
ÓSMIO MS-WINDOWS XP®
MS-WINDOWS Vista®

Source Bruker AXS - AFM e SPM

Para obter mais informações sobre desta fonte visite por favor Bruker AXS - AFM e SPM

Date Added: May 11, 2010 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 01:48

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