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包括的事宜
关于纳诺的 Bruker
NANOS SPM 系统
高分辨率图象
可靠的结果
所有 NANOS 评定的模式是可用的
应用
NANOS 说明
纳诺的 Bruker 提供从他们的稳健设计和易用的其他商业可用的系统引人注意，维护最高分辨率的基本强制显微镜/扫描探测显微镜 (AFM/SPM) 产品。 NANOS 评定的题头，是所有我们的仪器的一部分，使用评定的悬臂式偏折一台唯一光导纤维的干涉仪，如此做设置协定它大于一个标准研究显微镜目的没有。
为我们的显微镜的质量的牢固基本类型是有经验的科学家和工程师小组有超过 15 年背景在 AFM 商业。
您是否为表面分析和经常愿望更高的放大的 - 50,000 次甚至高于 500,000 次使用光学方法？ 或者您是否要进行定量结构上的评定？
NANOS 评定的题头是在大小上接近一个正常光学目的和形状的一个完全基本强制显微镜。 送进 nanosphere 的引人入胜的世界与您的显微镜的在眨眼。 NANOS 适应到您的显微镜里鼻甲喜欢一个光学目的。 它可以适应适合显微镜 (蔡司、 Leica、 Nikon，奥林匹斯山) 的所有公用类型。
请选择范例的一有趣区与您已经使用的光学显微学方法的，然后旋转在一个直接考试的 NANOS 与 SPM。 在几分钟内，您将得到可以进一步评估与我们的图象处理软件的高分辨率图象，强大的数据分析软件可用对 SCANControl C 电子。
NANOS AFM 使用一台干涉测量的探测器和高精确度位置探测器： 结果是准确的，校准，和定量。
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NANOS AFM/SPM 扫瞄头的液体浸没版本。 NANOS LQD 可以被浸洗到液体并且允许在培养皿的方便评定或类似。 左 NANOS 有 20 µm x 20 µm 的扫描范围，正确的 NANOS 有 40 µm x 40 µm 的扫描范围。
NANOS 提供最大通用性。 可以使用所有 SPM 评定的模式，并且这个系统可以容易地适应新建应用程序。 下列标准评定的模式是可用的： 请与联系，没有接触的模式，断断续续的联系模式，阶段对比，磁性或电子描述特性的 (MFM/EFM)，强制模块化， (FM)侧力，浏览的 (LFM)表面潜在， (SSPM)扩展电阻，可变的 (SR)兼容性，有传感器的 metrologycompatible 评定的题头域对比。 其他模式应要求是可用的。
NANOS 可以用于检查所有生物或无机表面。
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人发的第 2 个图象，评定在没有接触的模式下
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排行范例的配置文件在上述图象的
NANOS 的说明在这张表里产生。
| 参数 | 说明 |
| 扫描范围 | 20 µm x 20 µm x 3 µm
40 µm x 40 µm x 4 µm
80 µm x 80 µm x 6 µm
硬件在 X Y 方向的线性化的扫描行动 (可任选地在 Z 方向) |
| 噪声级 (z) | < 20 个 µm NANOS 题头的 0.05 毫微米 RMS，可能是充分地高根据光学显微镜 |
| 侧向准确性 | 典型地在 0.5% 之内，闭合电路扫描 |
| 扫描速度 | typ。 1 到 10 Hz |
| 检测原则 | 光纤干涉测量法，噪声级 < 0.01 毫微米 RMS |
| 技巧 | 硅技巧，多种类型 |
| 技巧更改 | 调整释放 |
| 数字输入 res。 | 16 位 A/D |
| 数字输出 res。 | 16 位 D/A |
| 输出电压 | ± 165 V，与 2 µV RMS |
| 输入通道 | 最大。 8 同时 |
| 外部输入 | 最大。 3 与 16 位解决方法 |
| 图象范围 | 自由地可选，从 128 到 4098 象素 |
| 计算机 interf。 | USB |
| OS | MS-Windows XP®
MS-Windows Vista® |
来源 Bruker AXS - AFM 和 SPM
关于此来源的更多信息请参观 Bruker AXS - AFM 和 SPM