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討論主題
關於布魯克納米
NANOS的SPM系統
高分辨率圖像
可靠的結果
所有NANOS測量模式可用
應用
NANOS規格
布魯克納米提供了原子力顯微鏡/掃描探針顯微鏡（AFM / SPM）產品脫穎而出，其他的商用系統，其強大的設計和易於使用，同時保持最高的分辨率。 毫微秒測量頭，這是我們所有的文書的一部分，採用了獨特的光纖干涉儀測量懸臂變形，這使得安裝非常緊湊，這是不超過標準的研究顯微鏡物鏡。
顯微鏡質量打下堅實的基礎，是一支經驗豐富的科學家和工程師在AFM業務超過 15年的背景下隊伍。
你使用光學表面分析的方法，往往希望一個更高的放大倍率 - 50,000倍，甚至超過 50萬次高？或者你要執行的量化結構測量？
毫微秒的測量頭，是一個完整的原子力顯微鏡的大小和形狀接近正常的光學目標。輸入你在眨眼的顯微鏡的納米球的迷人世界。 NANOS適合您的顯微鏡物鏡轉換器就像一個光學目標。它可以調整以適應所有常見類型的顯微鏡（蔡司，萊卡，尼康，奧林巴斯）。
只需選擇一個有趣的領域與光學顯微鏡的方法，你已經在使用樣本，然後在旋轉的 Nano直接與SPM的考試。幾分鐘內，您將獲得高分辨率的圖像，它可以進一步與我們的圖像處理軟件，強大的數據分析軟件可與 SCANControl彗星電子評估。
NANOS原子力顯微鏡的使用干涉檢測器和高精度位置檢測器：結果準確，校準和定量。
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藥液浸泡版本NANOS的AFM / SPM掃描頭。 NANOS LQD可以被浸泡成液體，並允許在培養皿或類似方便的測量。左毫微秒的掃描範圍為20微米× 20微米，正確的毫微秒的掃描範圍為40微米× 40微米。
毫微秒提供最大的多功能性。所有的SPM測量模式可以使用，該系統可以很容易地適應新的應用。下列標準測量模式可供選擇：接觸，非接觸式模式，間歇接觸模式，相襯，現場對比磁性或電氣表徵（MFM / EFM），力調製（FM），側向力（LFM），掃描表面電位， （SSPM），擴展電阻（SR），流體相容性，與傳感器 metrologycompatible的測量頭。根據要求提供的其他模式。
可用於檢查所有的生物或無機表面的毫微秒 。
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一個人的頭髮的二維圖像，在非接觸模式下測量
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樣品在上面的圖像中的線條輪廓
表中給出的規格NANOS 。
| 參數 | 規格 |
| 掃描範圍 | 20微米× 20微米× 3微米
40微米× 40微米× 4微米
80微米× 80微米× 6微米
硬件線性XY方向掃描的議案（可選在Z軸方向） |
| 噪音水平（Z） | <0.05 nm的RMS為20微米的Nano頭，可大幅提高取決於光學顯微鏡 |
| 橫向精度 | 通常在0.5％，閉環掃描 |
| 掃描速度 | 典型。 1到10赫茲 |
| 檢測原理 | 光纖干涉儀，噪音水平<0.01毫微米均方根值 |
| 提示 | 矽技巧，各類 |
| 提示更改 | 免調整 |
| 數字輸入RES。 | 16位A / D轉換器 |
| 數字輸出水庫。 | 16位D / A |
| 輸出電壓 | ± 165 V時，用2μVRMS |
| 輸入通道 | 最大。 8同時 |
| 外部輸入 | 最大。 3與16位分辨率 |
| 圖像尺寸 | 可自由選擇，從128到4098像素 |
| 計算機INTERF。 | USB |
| 操作系統 | MS的Windows XP ®
MS的Windows Vista ® |
布魯克AXS來源-原子力顯微鏡和SPM
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