Diversos Ópticos, el AFM y las Técnicas de la Espectroscopia Proporcionan a las Oportunidades Únicas para la Investigación de Graphene por NT-MDT

Temas Revestidos

Introducción
Oportunidades Únicas en la Investigación de Graphene
Graphene Estudió por Diverso Óptico, AFM y Técnicas de la Espectroscopia
Discernimiento Adicional en Graphene y la Estructura del Grafito
     Proyección De Imagen De Alta Resolución de Graphene De Una Sola Capa
     Imágenes del Cedazo de la Atómico-Resolución del Grafito
El Equipo

Introducción

Graphene - una capa de átomos de carbón dispuestos en un cedazo hexagonal - es la más nueva pieza de la familia de alótropos del carbón. El interés en graphene está subiendo contínuo entre comunidades de la ciencia. Sus propiedades únicas tales como conductividad eléctrica atraen a los físicos Aplicados, a los nuevos proyectistas materiales, y a los representantes técnicos de la nanotecnología y térmica.

Oportunidades Únicas en la Investigación de Graphene

La Combinación de la microscopia Atómica de la Microscopia (AFM), de Raman/de la Fluorescencia/de Rayleigh de la Fuerza y de la Microscopia Óptica del Campo cercano de la Exploración (SNOM) proporciona a las oportunidades únicas para la investigación de Graphene. Diversas técnicas del AFM permiten que uno estudie mecánico, eléctrico, magnético e incluso las propiedades elásticos de los copos de Graphene. Los Estudios de la función de trabajo local, de la conductividad, de la capacitancia, del piezoresponse y de muchas otras propiedades superficiales están también disponibles.

Al mismo tiempo, la microscopia de Raman (disponible simultáneamente con el AFM) proporciona a la información sobre el espesor del copo, uniformidad estructural, presencia de impurezas y deserta el Etc. Además, la proyección de imagen de Rayleigh y SNOM miden las propiedades ópticas locales de la muestra que proporciona a la información adicional sobre la estructura del copo. Importantemente, la mayor parte de las mediciones se pueden realizar bajo control del medio ambiente: en la humedad y la temperatura variables, en atmósfera controlada, en líquido e incluso (en algunas configuraciones) en el ambiente electroquímico y en el campo magnético externo.

Imagen de la luz Blanca del copo del graphene con punta del AFM y el laser de Raman

Graphene Estudió por Diverso Óptico, AFM y Técnicas de la Espectroscopia

Las imágenes abajo ilustran el uso de diverso óptico, del AFM y de las técnicas de la espectroscopia de investigar el grapnehe en los substratos2 de Si/SiO. Cortesía de Imagen de E.Kuznetsov, de S.Timofeev, y de P. Dorozhkin, NT-MDT Co.

Microscopia de la Fuerza Electroestática

Microscopia de la Modulación de la Fuerza

Microscopia de la Fuerza Lateral

Microscopia de la Antena de Kelvin de la Exploración

Topografía del AFM. Talla de la Exploración: µm 30 x 30

Microscopia Confocal de Rayleigh (laser de 473 nanómetro)

Correspondencia de Raman, Centro En Masa de la 2.a Banda (de G)

Correspondencia de Raman, Intensidad de la G-Banda

Discernimiento Adicional en Graphene y la Estructura del Grafito

El Discernimiento Adicional en Graphene y la Estructura del Grafito Se Puede Obtener con Otras Técnicas Muy De alta resolución de SPM.

Proyección De Imagen De Alta Resolución de Graphene De Una Sola Capa

La imagen de alta resolución fue tomada por el AFM y muestra un ensamblaje de las hojas de una sola capa, functionalized de Graphene en una superficie. Algunas de las hojas son muchos micrómetros cuadrados grandes. El espesor de cada hoja es menos de 1 nanómetro.

Cortesía de Imagen: El Dr. Hannes Schniepp (La Universidad de Guillermo y de Maria, los E.E.U.U.)

Imágenes del Cedazo de la Atómico-Resolución del Grafito

El retrato muestra una muestra del grafito (HOPG) que era reflejada explorando microscopia el hacer un túnel (STM). El rango de la exploración de la imagen entera es menos de 7 nanómetro. Se logra la resolución atómica Excelente.

Cortesía de Imagen: El Dr. Hannes Schniepp (La Universidad de Guillermo y de Maria, los E.E.U.U.)

El Equipo

Los Espectros de NTEGRA proporcionan a la oportunidad de realizar todas las mediciones por el mismo instrumento, en la misma muestra durante el mismo experimento. Es posible obtener el AFM/Raman/Fluorescencia/Rayleigh/correspondencias exactamente de la misma área durante una exploración de la muestra. Todo El AFM y análisis de datos espectral se realizan con el mismo software.

Fuente: NT-MDT Co.

Para más información sobre esta fuente visite por favor NT-MDT Co.

Date Added: Jun 12, 2010 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 01:55

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