Différents Optiques, l'AFM et les Techniques de Spectroscopie Présentent des Opportunités Uniques de l'Enquête sur Graphene par NT-MDT

Sujets Couverts

Introduction
Opportunités Uniques dans l'Enquête de Graphene
Graphene A Étudié par Optique Varié, AFM et Techniques de Spectroscopie
Davantage d'Aperçu de Graphene et de Structure de Graphite
     Représentation À haute résolution de Graphene À Une Seule Couche
     Images de Réseau d'Atomique-Définition de Graphite
Le Matériel

Introduction

Graphene - une couche d'atomes de carbone disposés dans un réseau hexagonal - est le membre le plus neuf dans la famille des formes allotropiques de carbone. L'intérêt pour le graphene monte continuellement parmi des communautés de la science. Des physiciens Appliqués, les créateurs matériels neufs, et les ingénieurs de nanotechnologie sont attirés par ses seules propriétés telles qu'élém. élect. et la conduction thermique.

Opportunités Uniques dans l'Enquête de Graphene

La Combinaison de la microscopie Atomique de Microscopie (AFM), de Raman/Fluorescence/Rayleigh de Force et de la Microscopie Optique de Proche-Zone de Lecture (SNOM) présente des opportunités uniques de l'enquête de Graphene. Les Différentes techniques d'AFM permettent à on d'étudier mécanique, élém. élect., magnétique et même des propriétés élastiques des éclailles de Graphene. Les Études du fonctionnement de travail local, de la conductivité, de la capacité, du piezoresponse et de beaucoup d'autres propriétés extérieures sont également disponibles.

En même temps, la microscopie de Raman (disponible simultanément avec l'AFM) fournit des informations au sujet d'épaisseur d'éclaille, l'uniformité structurelle, présence des impuretés et déserte Etc. Supplémentaire, la représentation de Rayleigh et les SNOM mesurent les propriétés optiques locales de l'échantillon fournissant les informations supplémentaires au sujet de la structure d'éclaille. D'une Manière Primordiale, la plupart des mesures peuvent être exécutées sous le contrôle de l'environnement : à l'humidité et à la température variables, dans en atmosphère contrôlée, dans liquide et même (dans quelques configurations) dans l'environnement électrochimique et au champ magnétique externe.

Image de la lumière Blanche de l'éclaille de graphene avec l'extrémité d'AFM et le laser de Raman

Graphene A Étudié par Optique Varié, AFM et Techniques de Spectroscopie

Les images ci-dessous illustre l'utilisation d'optique varié, de l'AFM et des techniques de spectroscopie de vérifier le grapnehe sur des substrats2 de Si/SiO. Accueil d'Image d'E.Kuznetsov, de S.Timofeev, et de P. Dorozhkin, NT-MDT Cie.

Microscopie de Force Électrostatique

Microscopie de Modulation de Force

Microscopie de Force Transversale

Microscopie de Sonde de Kelvin de Lecture

Topographie d'AFM. Taille d'Échographie : µm 30 x 30

Microscopie Confocale de Rayleigh (laser de 473 nanomètre)

Plan de Raman, Centre De Masse de 2D Bande (de G)

Plan de Raman, Intensité de G-Bande

Davantage d'Aperçu de Graphene et de Structure de Graphite

Davantage d'Aperçu de Graphene et de Structure de Graphite Peut Être Obtenu avec d'Autres Techniques Très De haute résolution de SPM.

Représentation À haute résolution de Graphene À Une Seule Couche

L'image haute résolution a été prise par l'AFM et affiche un assemblage des feuilles à une seule couche et functionalized de Graphene sur une surface. Certaines des feuilles sont beaucoup de micromètres carrés grands. L'épaisseur de chaque feuille est moins de 1 nanomètre.

Accueil d'Image : M. Hannes Schniepp (L'Université de William et de Mary, ETATS-UNIS)

Images de Réseau d'Atomique-Définition de Graphite

L'illustration affiche un échantillon du graphite (HOPG) qui était imagé en balayant la microscopie de perçage d'un tunnel (STM). Le domaine d'échographie de l'image entière est moins de 7 nanomètre. L'Excellente définition atomique est réalisée.

Accueil d'Image : M. Hannes Schniepp (L'Université de William et de Mary, ETATS-UNIS)

Le Matériel

Les Spectres de NTEGRA fournit l'opportunité d'effectuer toutes les mesures par le même instrument, sur le même échantillon pendant la même expérience. Il est possible d'obtenir l'AFM/Raman/Fluorescence/Rayleigh/plans exact à partir de la même zone pendant une échographie d'échantillon. Tous Les AFM et analyse de données spectrale sont exécutés avec le même logiciel.

Source : NT-MDT Cie.

Pour plus d'informations sur cette source visitez s'il vous plaît NT-MDT Cie.

Date Added: Jun 12, 2010 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 01:20

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