Ottici Differenti, il AFM e le Tecniche della Spettroscopia Offrono le Occasioni Uniche di Indagine su Graphene da NT-MDT

Argomenti Coperti

Introduzione
Opportunità Uniche nella Ricerca di Graphene
Graphene Ha Studiato da Vario Ottico, AFM e Tecniche della Spettroscopia
Ulteriore Visione di Graphene e della Struttura della Grafite
     Rappresentazione Ad Alta Definizione di Graphene A Un Solo Strato
     Immagini della Grata di Atomico-Risoluzione della Grafite
La Strumentazione

Introduzione

Graphene - un livello di atomi di carbonio sistemati in una grata esagonale - è il più nuovo membro nella famiglia degli allotropi del carbonio. L'interesse nel graphene sta aumentando continuamente fra le comunità di scienza. I fisici Applicati, i nuovi progettisti materiali e gli ingegneri di nanotecnologia sono attirati dai sui beni unici quale la conducibilità elettrica e termica.

Opportunità Uniche nella Ricerca di Graphene

La Combinazione di microscopia Atomica di Microscopia (AFM), di Raman/Fluorescenza/Rayleigh della Forza e di Microscopia Ottica del Quasi-Campo di Scansione (SNOM) offre le occasioni uniche di ricerca di Graphene. Le tecniche Differenti del AFM permettono che si studi meccanico, elettrico, magnetico e perfino i beni elastici dei fiocchi di Graphene. Gli Studi sulla funzione di lavoro locale, sulla conducibilità, sulla capacità, sul piezoresponse e su molti altri beni di superficie sono egualmente disponibili.

Allo stesso tempo, la microscopia di Raman (disponibile simultaneamente con il AFM) fornisce informazioni su spessore del fiocco, l'uniformità strutturale, presenza di impurità e diserta Ecc. Ulteriormente, la rappresentazione di Rayleigh e SNOM misurano i beni ottici locali del campione che fornisce l'ulteriore informazione circa la struttura del fiocco. D'importanza, la maggior parte delle misure possono essere realizzate sotto controllo dell'ambiente: ad umidità ed alla temperatura variabili, in in atmosfera controllata, in liquido e perfino (in alcune configurazioni) nell'ambiente elettrochimico ed al campo magnetico esterno.

Immagine della Luce bianca del fiocco del graphene con il suggerimento del AFM ed il laser di Raman

Graphene Ha Studiato da Vario Ottico, AFM e Tecniche della Spettroscopia

Le immagini sotto illustra l'uso di vario ottico, del AFM e delle tecniche della spettroscopia studiare il grapnehe sui substrati2 di Si/SiO. Cortesia di Immagine di E.Kuznetsov, di S.Timofeev e di P. Dorozhkin, NT-MDT Co.

Microscopia della Forza Elettrostatica

Microscopia di Modulazione della Forza

Microscopia della Forza Laterale

Microscopia della Sonda di Kelvin di Scansione

Topografia del AFM. Dimensione di Scansione: µm 30 x 30

Microscopia Confocale di Rayleigh (laser di 473 nanometro)

Mappa di Raman, Centro Di Massa della 2D Banda (di G)

Mappa di Raman, Intensità della G-Banda

Ulteriore Visione di Graphene e della Struttura della Grafite

Ulteriore Visione di Graphene e della Struttura della Grafite Può Essere Ottenuta con Altre Tecniche Molto Di alta risoluzione di SPM.

Rappresentazione Ad Alta Definizione di Graphene A Un Solo Strato

L'immagine ad alta definizione è stata catturata dal AFM e mostra un montaggio delle lamiere sottili a un solo strato e functionalized di Graphene su una superficie. Alcune delle lamiere sottili sono molti micrometri quadrati grandi. Lo spessore di ogni lamiera sottile è di meno di 1 nanometro.

Cortesia di Immagine: Dott. Hannes Schniepp (L'Istituto Universitario di William & Maria, U.S.A.)

Immagini della Grata di Atomico-Risoluzione della Grafite

La maschera mostra un campione della grafite (HOPG) che era imaged scandendo la microscopia di traforo (STM). L'intervallo di scansione di intera immagine è di meno di 7 nanometro. La risoluzione atomica Eccellente è raggiunta.

Cortesia di Immagine: Dott. Hannes Schniepp (L'Istituto Universitario di William & Maria, U.S.A.)

La Strumentazione

Gli Spettri di NTEGRA fornisce l'opportunità di effettuare tutte le misure dallo stesso strumento, sullo stesso campione durante lo stesso esperimento. È possibile ottenere esattamente il AFM/Raman/Fluorescenza/Rayleigh/mappe dalla stessa area durante l'una scansione del campione. Tutti I AFM ed analisi di dati spettrale sono eseguiti con lo stesso software.

Sorgente: NT-MDT Co.

Per ulteriori informazioni su questa sorgente visualizzi prego NT-MDT Co.

Date Added: Jun 12, 2010 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 01:28

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