다른 광학 적이고, AFM 및 분광학 기술은 NT-MDT에 의하여 Graphene의 수사 유일한 기회를 제공합니다

커버되는 토픽

소개
Graphene 수사에 있는 유일한 기회
Graphene는 각종 광학 의 AFM와 분광학 기술에 의하여 공부했습니다
Graphene와 흑연 구조물로 추가 통찰력
     단 하나 층 Graphene의 고해상도 화상 진찰
     흑연의 원자 해결책 격자 심상
장비

소개

Graphene - 6각형 격자에서 배열되는 탄소 원자의 1개의 층 -는 탄소 동소체의 계열에 있는 가장 새로운 일원입니다. graphene에 있는 관심사는 과학 지역 사회 중 지속적으로 상승하고 있습니다. 적용되는 물리학자, 새로운 물자 디자이너 및 나노 과학 엔지니어는 전기 및 열 전도도와 같은 그것의 유일한 속성에 의해 끌립니다.

Graphene 수사에 있는 유일한 기회

원자 군대 현미경 검사법, 라만 (AFM)/형광/Rayleigh 현미경 검사법 및 스캐닝 가깝 필드 광학적인 현미경 검사법 (SNOM)의 조합은 Graphene 수사 유일한 기회를 제공합니다. 다른 AFM 기술은 1개가 및 Graphene 조각의 탄력 있는 속성 조차 기계, 전기, 자석을 공부하는 것을 허용합니다. 현지 일함수, 전도도, 용량, piezoresponse 및 다른 많은 지상 속성의 연구 결과는 또한 유효합니다.

동시에, (AFM에 동시에 유효한) 라만 현미경 검사법은 조각 간격, 구조상 균등성, 불순의 존재에 관하여 정보를 제공하고 등등을 배반합니다. 게다가, Rayleigh 화상 진찰과 SNOM는 조각 구조물에 관하여 추가 정보를 제공하는 견본의 현지 광학적 성질을 측정합니다. 중요한 사실은, 측정의 대부분은 환경 관리의 밑에 실행될 수 있습니다: 에 변하기 쉬운 습도 그리고 온도에, 통제되는 대기권에서, 전기화학 환경에서 액체에서 그리고 조차 (몇몇 윤곽에서) 그리고 외부 자기장.

AFM 끝과 라만 레이저를 가진 graphene 조각의 공정한 판단 심상

Graphene는 각종 광학 의 AFM와 분광학 기술에 의하여 공부했습니다

심상은 아래에 Si/SiO 기질에 grapnehe를 조사하는 각종 광학 적이고, AFM 및 분광학 기술의 사용을2 설명합니다. E.Kuznetsov, S.Timofeev 및 P. Dorozhkin, NT-MDT Co.의 심상 의례.

정전기힘 현미경 검사법

군대 변조 현미경 검사법

횡력 현미경 검사법

스캐닝 켈빈 탐사기 현미경 검사법

AFM 지세. 검사 규모: 30 x 30 µm

Rayleigh Confocal 현미경 검사법 (473 nm 레이저)

라만 지도, (G) 제 2 악대의 대량 센터

라만 지도, G 악대 강렬

Graphene와 흑연 구조물로 추가 통찰력

Graphene와 흑연 구조물로 추가 통찰력은 그밖 아주 고해상 SPM 기술로 장악될 수 있습니다.

단 하나 층 Graphene의 고해상도 화상 진찰

고해상도 심상은 AFM에 의해 취하고 단 하나 층의 집합, 표면에 Graphene functionalized 장을 보여줍니다. 몇몇은의 장 큰 많은 정연한 마이크로미터입니다. 각 장의 간격은 1 nm 이하 입니다.

심상 의례: Hannes Schniepp (윌리엄 & 메리, 미국의 대학) 박사

흑연의 원자 해결책 격자 심상

그림은 터널을 파 현미경 검사법을 검사해서 imaged 인 흑연 (HOPG) 견본을 보여줍니다 (STM). 전체 심상의 검사 범위는 7개 nm 이하 입니다. 우수한 원자 해결책은 달성됩니다.

심상 의례: Hannes Schniepp (윌리엄 & 메리, 미국의 대학) 박사

장비

NTEGRA 스펙트럼은 동일 실험 도중 동일 견본에 동일 계기에 의하여 모든 측정을, 실행하는 기회를 제공합니다. 1개 견본 검사 도중 동일 지역에서 AFM/라만/형광/Rayleigh/지도를 정확하게 장악하는 것이 가능합니다. 모든 AFM 및 괴기한 데이터 분석은 동일 소프트웨어로 능력을 발휘합니다.

근원: NT-MDT Co.

이 근원에 추가 정보를 위해 NT-MDT Co.를 방문하십시오.

Date Added: Jun 12, 2010 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 01:35

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