De Verschillende Optische, Technieken van AFM en van de Spectroscopie Bieden Unieke Mogelijkheden voor Onderzoek van Graphene door NT-MDT

Besproken Onderwerpen

Inleiding
Unieke Kansen in Onderzoek Graphene
Graphene door Diverse Optische, Technieken die van AFM en van de Spectroscopie wordt Bestudeerd
Verder Inzicht in Graphene en GrafietStructuur
     High-Resolution Weergave van Single-Layer Graphene
     De Beelden van het Rooster van de atoom-resolutie van Grafiet
De Apparatuur

Inleiding

Graphene - één die laag koolstofatomen in een hexagonaal rooster worden geschikt - is het nieuwste lid in de familie van koolstofallotropen. De rente in graphene neemt onophoudelijk onder wetenschapsgemeenschappen toe. De Toegepaste fysici, de nieuwe materiële ontwerpers, en de nanotechnologieingenieurs worden aangetrokken door zijn unieke eigenschappen zoals elektro en warmtegeleidingsvermogen.

Unieke Kansen in Onderzoek Graphene

De Combinatie van de AtoomMicroscopie van de Kracht (AFM), Raman/Fluorescentie/de microscopie Rayleigh en de Optische Microscopie van het dichtbijgelegen-Gebied van het Aftasten (SNOM) biedt unieke mogelijkheden voor onderzoek Graphene. De Verschillende technieken AFM staan men toe om mechanische, elektrische, magnetische en zelfs elastische eigenschappen van vlokken te bestuderen Graphene. De Studies van het lokale werk functioneren, geleidingsvermogen, capacitieve weerstand, piezoresponse en veel andere oppervlakteeigenschappen zijn ook beschikbaar.

Tezelfdertijd verstrekt de beschikbare microscopie Raman (gelijktijdig met AFM) informatie over vlokdikte, structurele uniformiteit, aanwezigheid van onzuiverheden en tekorten enz. Bovendien, meten de weergave Rayleigh en SNOM lokale optische eigenschappen van de steekproef die verdere informatie over vlokstructuur verstrekken. Belangrijk, kunnen de meeste metingen onder milieucontrole worden uitgevoerd: bij veranderlijke vochtigheid en temperatuur, in gecontroleerde atmosfeer, in vloeistof en zelfs (in sommige configuraties) in elektrochemisch milieu en bij het externe magnetisch veld.

Wit licht beeld van de graphenevlok met uiteinde AFM en laser Raman

Graphene door Diverse Optische, Technieken die van AFM en van de Spectroscopie wordt Bestudeerd

De beelden illustreert hieronder het gebruik van diverse optische, technieken van AFM en van de spectroscopie grapnehe op substraten te onderzoeken2 Si/SiO. De hoffelijkheid van het Beeld van E.Kuznetsov, S.Timofeev, en P. Dorozhkin, Co. NT-MDT.

De Elektrostatische Microscopie van de Kracht

De Microscopie van de Modulatie van de Kracht

De Zij Microscopie van de Kracht

Aftasten Kelvin Probe Microscopy

Topografie AFM. De Grootte van het Aftasten: 30 x 30 µm

Confocal Microscopie Rayleigh (473 NMlaser)

De Kaart van Raman, het Centrum van de Massa van de 2D Band (van G)

De Kaart van Raman, g-Band Intensiteit

Verder Inzicht in Graphene en GrafietStructuur

Het Verdere Inzicht in Graphene en GrafietStructuur Kan met Andere Technieken van de Zeer Hoge Resolutie worden Verkregen SPM.

High-Resolution Weergave van Single-Layer Graphene

Het high-resolution beeld werd genomen door AFM en toont een assemblage van single-layer, functionalized bladen Graphene op een oppervlakte. Enkele bladen zijn vele vierkante grote micrometers. De dikte van elk blad is minder dan 1 NM.

De hoffelijkheid van het Beeld: Dr. Hannes Schniepp (de Universiteit van William & Mary, de V.S.)

De Beelden van het Rooster van de atoom-resolutie van Grafiet

Het beeld toont een grafietsteekproef (van HOPG) die door het een tunnel graven de microscopie af te tasten imaged was (STM). De aftastenwaaier van het volledige beeld is minder dan 7 NM. De Uitstekende atoomresolutie wordt bereikt.

De hoffelijkheid van het Beeld: Dr. Hannes Schniepp (de Universiteit van William & Mary, de V.S.)

De Apparatuur

De Spectrums NTEGRA biedt de mogelijkheid om alle metingen door het zelfde instrument, op de zelfde steekproef tijdens het zelfde experiment uit te voeren. Het is mogelijk om AFM/Raman/Fluorescentie/Rayleigh/kaarten uit het zelfde gebied tijdens één steekproefaftasten precies te verkrijgen. Al AFM en spectrale de gegevensanalyse worden uitgevoerd met de zelfde software.

Bron: NT-MDT Co.

Voor meer informatie over deze bron te bezoeken gelieve Co. NT-MDT.

Date Added: Jun 12, 2010 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 01:16

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit