Различные оптические, AFM и спектроскопия методы предоставляют уникальные возможности для исследования Графен НТ-МДТ

Рассматриваемые вопросы

Введение
Уникальные возможности в Графен Исследование
Графен изучены различные оптические, AFM и спектроскопия методы
Дальнейшее понимание Графен и графитовой структуры
Изображений с высоким разрешением однослойных графеновых
С атомным разрешением решетки Изображения Графит
Оборудование

Введение

Графен - один слой атомов углерода, расположенных в гексагональной решетке - это новейший член семейства углерода аллотропы. Интерес в графене постоянно растет среди научных сообществ. Прикладной физики, новых дизайнеров материала, и нанотехнологии инженеров привлекают уникальные свойства, такие как электро-и теплопроводность.

Уникальные возможности в Графен Исследование

Комбинация атомно-силовой микроскопии (АСМ), Раман / Флуоресцентный / Рэлея микроскопии и сканирующей Near-Field оптическая микроскопия (БОМ) предоставляет уникальные возможности для Графен расследования. Различные техники АСМ позволяет исследовать механические, электрические, магнитные и даже упругие свойства графена хлопья. Исследование локальной работы, проводимости, емкости, piezoresponse и многие другие свойства поверхности, также доступны.

В то же время, Раман микроскопии (доступны одновременно с АСМ) предоставляет информацию о чешуйчатого толщиной, структурной однородности, наличие примесей и дефектов и т.д. Кроме того, Рэлея изображений и СБОМ мера локальных оптических свойств образца предоставляющий дополнительные сведения о чешуйчатого строения. Важно отметить, что большинство из измерений может быть выполнена под контроля окружающей среды: при переменной влажности и температуры, в контролируемой атмосфере, в жидком и даже (в некоторых конфигурациях) в электрохимических окружающей среды и на внешнем магнитном поле.

Белый свет образ графена чешуйчатого с АСМ и ВКР-лазера

Графен изучены различные оптические, AFM и спектроскопия методы

Изображения ниже иллюстрирует использование различных оптических, АСМ и методы спектроскопии для исследования grapnehe на Si / SiO ₂ субстратов. Изображение предоставлено Е. Кузнецов, С. Тимофеев, П. Дорожкин, НТ-МДТ

Дальнейшее понимание Графен и графитовой структуры

Дальнейшее понимание Графен и графитовой структуры могут быть получены с другими Very High методов урегулирования СЗМ.

Изображений с высоким разрешением однослойных графеновых

Изображения с высоким разрешением был сделан с помощью АСМ и показывает сборки однослойных, функционализированных листов графена на поверхности. Некоторые листы многих квадратных микрометров целом. Толщина каждого листа составляет менее 1 нм.

Изображение предоставлено: д-р Ханнес Schniepp (Колледж Уильяма и Мэри, США)

С атомным разрешением решетки Изображения Графит

На снимке графита (ВОПГ) образец, которое было изображено сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Область сканирования всего изображения менее 7 нм. Отлично атомное разрешение достигнуто.

Изображение предоставлено: д-р Ханнес Schniepp (Колледж Уильяма и Мэри, США)

Оборудование

ИНТЕГРА Спектра дает возможность выполнять все измерения одним и тем же инструментом, на том же образце в течение того же эксперимента. Это позволило получить AFM / комбинационного / Флуоресцентный / Рэлея / карты именно из той же области в течение одного образца сканирования. Все АСМ и спектральный анализ данных осуществляются с тем же программным обеспечением.

Источник: НТ-МДТ

Для получения дополнительной информации на этот источник пожалуйста, посетите НТ-МДТ