Различные Оптически, AFM и Методы Спектроскопии Обеспечивают Уникально Возможности для Исследования Graphene NT-MDT

Покрытые Темы

Введение
Уникально Возможности в Исследовании Graphene
Graphene Изучило Различное Оптически, AFM и Методы Спектроскопии
Более Дальнеишая Проницательность в Graphene и Структуру Графита
     Воображение Высок-Разрешения Однослойного Graphene
     Изображения Решетки Атомн-Разрешения Графита
Оборудование

Введение

Graphene - один слой атомов углерода аранжированных в шестиугольной решетке - самый новый член в семействе аллотропов углерода. Интерес в graphene непрерывно поднимает среди общин науки. Прикладные физики, новые материальные конструкторы, и инженеры нанотехнологии привлечены своими уникально свойствами как электрическая и термальная проводимость.

Уникально Возможности в Исследовании Graphene

Микроскопия Микроскопии, Raman (AFM)/Флуоресцирования/Rayleigh Усилия Сочетание из Атомная и Микроскопия Близко-Поля Скеннирования Оптически (SNOM) обеспечивают уникально возможности для исследования Graphene. Различные методы AFM позволяют одному изучить механически, электрическое, магнитную и даже эластичные свойства хлопьев Graphene. Изучения местной рабочей функции, проводимости, емкости, piezoresponse и много других поверхностных свойств также доступны.

В тоже время, микроскопия Raman (доступная одновременно с AFM) обеспечивает информацию о толщине хлопь, структурном единообразии, присутсвии примесей и изменяет Etc. воображение Дополнительно, Rayleigh и измерение SNOM свойства местные оптически образца обеспечивая более подробная информация о структуре хлопь. Важно, большое часть из измерений можно выполнить под контролем за состоянием окружающей среды: на переменных влажности и температуре, в контролируемой атмосфере, в жидкостном и даже (в некоторых конфигурациях) в электрохимической окружающей среде и на внешнем магнитном поле.

Изображение Белого света хлопь graphene с подсказкой AFM и лазером Raman

Graphene Изучило Различное Оптически, AFM и Методы Спектроскопии

Изображения ниже иллюстрируют пользу различное оптически, AFM и методов спектроскопии расследовать grapnehe на субстратах2 Si/SiO. Учтивость Изображения E.Kuznetsov, S.Timofeev, и P. Dorozhkin, CO. NT-MDT.

Микроскопия Силы Электростатического Поля

Микроскопия Модуляции Усилия

Микроскопия Бокового Усилия

Микроскопия Зонда Кельвина Скеннирования

Топография AFM. Размер Развертки: µm 30 x 30

Confocal Микроскопия Rayleigh (лазер 473 nm)

Карта Raman, Массовый Центр 2D Диапазона (G)

Карта Raman, Интенсивность G-Диапазона

Более Дальнеишая Проницательность в Graphene и Структуру Графита

Более Дальнеишую Проницательность в Graphene и Структуру Графита Можно Получить с Другими Очень Высокими Методами Разрешения SPM.

Воображение Высок-Разрешения Однослойного Graphene

Изображение высок-разрешения было принято AFM и показывает агрегат однослойных, functionalized листов Graphene на поверхности. Некоторые из листов много квадратных микрометров больших. Толщина каждого листа чем 1 nm.

Учтивость Изображения: Др. Hannes Schniepp (Коллеж Вильгельма & Mary, США)

Изображения Решетки Атомн-Разрешения Графита

Изображение показывает образец графита (HOPG) который был imaged путем просматривать микроскопию прокладывать тоннель (STM). Ряд развертки всего изображения чем 7 nm. Превосходное атомное разрешение достигано.

Учтивость Изображения: Др. Hannes Schniepp (Коллеж Вильгельма & Mary, США)

Оборудование

Спектры NTEGRA обеспечивают возможность унести все измерения такой же аппаратурой, на таком же образце во время такого же эксперимента. Возможно получить AFM/Raman/Флуоресцирование/Rayleigh/карты точно от такой же области во время одной развертки образца. Полностью AFM и спектральный анализ данных выполнены с таким же ПО.

Источник: CO. NT-MDT.

Для больше информации на этом источнике пожалуйста посетите CO. NT-MDT.

Date Added: Jun 12, 2010 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 01:52

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit