不同光学, AFM 和分光学技术为 Graphene 的调查提供唯一机会由 NT-MDT

包括的事宜

简介
在 Graphene 调查的唯一机会
Graphene 由多种光学, AFM 和分光学技术学习了
进一步答案到 Graphene 和石墨结构里
     单层 Graphene 高分辨率想象
     基本解决方法石墨的格子图象
设备

简介

Graphene - 碳原子一块层在一个六角格子安排的 - 是碳同素异形体系列的最新的成员。 兴趣在 graphene 上在科学社区中不断地上升。 应用的物理学家、新的物质设计员和纳米技术工程师由其唯一属性吸引例如电子和导热性。

在 Graphene 调查的唯一机会

基本强制显微学、喇曼 (AFM)/荧光/Rayleigh 显微学和扫描近域光学显微学 (SNOM) 的组合为 Graphene 调查提供唯一机会。 不同的 AFM 技术允许一学习机械,电,磁性和 Graphene 剥落甚而有弹性属性。 局部功函、传导性、电容、 piezoresponse 和许多其他表面属性的研究也是可用的。

同时,喇曼显微学 (可用同时对 AFM) 关于剥落厚度,结构上的均一,杂质出现的情报并且背叛等。 另外, Rayleigh 想象和 SNOM 评定提供关于剥落结构的这个范例的局部光学性能详细信息。 重要地,大多评定可以进行在环境控制下: 在可变的湿气和温度,在控制气氛,在液体和甚而 (在有些配置) 在电化学环境里和在外部磁场。

graphene 剥落的白光图象与 AFM 技巧和喇曼激光的

Graphene 由多种光学, AFM 和分光学技术学习了

下面的图象说明使用多种光学, AFM 和分光学技术调查在 Si/SiO 基体的2 grapnehe。 E.Kuznetsov、 S.Timofeev 和 P. Dorozhkin, NT-MDT Co. 镜象

静电力显微学

强制模块化显微学

侧力显微学

扫描凯尔文探测显微学

AFM 地势。 扫描范围: 30 x 30 µm

共焦的 Rayleigh 显微学 (473 毫微米激光)

喇曼映射,第 2 个 (G) 范围的质量中心

喇曼映射, G 范围强度

进一步答案到 Graphene 和石墨结构里

进一步答案到 Graphene 和石墨结构里可以得到与其他非常高分辨率 SPM 技术。

单层 Graphene 高分辨率想象

高分辨率图象由 AFM 采取并且显示单层, functionalized Graphene 页装配在表面的。 某些页是大许多方形测微表。 每页的厚度少于 1 毫微米是。

镜象: Hannes Schniepp (学院博士威廉 & 玛丽,美国)

基本解决方法石墨的格子图象

这张照片显示通过浏览挖洞显微学是印象的石墨 (HOPG) 范例 (STM)。 整个图象的扫描范围少于 7 毫微米是。 非常好的基本解决方法达到。

镜象: Hannes Schniepp (学院博士威廉 & 玛丽,美国)

设备

在同一个实验期间, NTEGRA 光谱提供这个机会由同一台仪器执行所有评定,在同一个范例。 从同一区正确地获得 AFM/喇曼/荧光/Rayleigh/映射在一范例扫描期间,是可能的。 所有 AFM 和光谱数据分析执行与同样软件。

来源: NT-MDT Co。

关于此来源的更多信息请参观 NT-MDT Co。

Date Added: Jun 12, 2010 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 01:09

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