不同光學, AFM 和分光學技術為 Graphene 的調查提供唯一機會由 NT-MDT

包括的事宜

簡介
在 Graphene 調查的唯一機會
Graphene 由多種光學, AFM 和分光學技術學習了
進一步答案到 Graphene 和石墨結構裡
     單層 Graphene 高分辨率想像
     基本解決方法石墨的格子圖像
設備

簡介

Graphene - 碳原子一塊層在一個六角格子安排的 - 是碳同素異形體系列的最新的成員。 興趣在 graphene 上在科學社區中不斷地上升。 應用的物理學家、新的物質設計員和納米技術工程師由其唯一屬性吸引例如電子和導熱性。

在 Graphene 調查的唯一機會

基本強制顯微學、喇曼 (AFM)/熒光/Rayleigh 顯微學和掃描近域光學顯微學 (SNOM) 的組合為 Graphene 調查提供唯一機會。 不同的 AFM 技術允許一學習機械,電,磁性和 Graphene 剝落甚而有彈性屬性。 局部功函、傳導性、電容、 piezoresponse 和許多其他表面屬性的研究也是可用的。

同時,喇曼顯微學 (可用同時對 AFM) 關於剝落厚度,結構上的均一,雜質出現的情報并且背叛等。 另外, Rayleigh 想像和 SNOM 評定提供關於剝落結構的這個範例的局部光學性能詳細信息。 重要地,大多評定可以進行在環境控制下: 在可變的濕氣和溫度,在控制氣氛,在液體和甚而 (在有些配置) 在電化學環境裡和在外部磁場。

graphene 剝落的白光圖像與 AFM 技巧和喇曼激光的

Graphene 由多種光學, AFM 和分光學技術學習了

下面的圖像說明使用多種光學, AFM 和分光學技術調查在 Si/SiO 基體的2 grapnehe。 E.Kuznetsov、 S.Timofeev 和 P. Dorozhkin, NT-MDT Co. 鏡像

靜電力顯微學

強制模塊化顯微學

側力顯微學

掃描凱爾文探測顯微學

AFM 地勢。 掃描範圍: 30 x 30 µm

共焦的 Rayleigh 顯微學 (473 毫微米激光)

喇曼映射,第 2 個 (G) 範圍的質量中心

喇曼映射, G 範圍強度

進一步答案到 Graphene 和石墨結構裡

進一步答案到 Graphene 和石墨結構裡可以得到與其他非常高分辨率 SPM 技術。

單層 Graphene 高分辨率想像

高分辨率圖像由 AFM 採取并且顯示單層, functionalized Graphene 頁裝配在表面的。 某些頁是大許多方形測微表。 每頁的厚度少於 1 毫微米是。

鏡像: Hannes Schniepp (學院博士威廉 & 瑪麗,美國)

基本解決方法石墨的格子圖像

這張照片顯示通過瀏覽挖洞顯微學是印象的石墨 (HOPG) 範例 (STM)。 整個圖像的掃描範圍少於 7 毫微米是。 非常好的基本解決方法達到。

鏡像: Hannes Schniepp (學院博士威廉 & 瑪麗,美國)

設備

在同一個實驗期間, NTEGRA 光譜提供這個機會由同一臺儀器執行所有評定,在同一個範例。 從同一區正確地獲得 AFM/喇曼/熒光/Rayleigh/映射在一範例掃描期間,是可能的。 所有 AFM 和光譜數據分析執行與同樣軟件。

來源: NT-MDT Co。

關於此來源的更多信息请請參觀 NT-MDT Co。

Date Added: Jun 12, 2010 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 01:12

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit