Sondes Dopées de Diamant - Types et Applications de Sondes Dopées de Diamant de Nanostructures Appliqué

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Au Sujet de NanoStructures Appliqué
Introduction
Caractéristiques d'Extrémité
Caractéristiques En Porte-à-faux
Modèles Disponibles

Au Sujet de NanoStructures Appliqué

Applied NanoStructures, Inc. développe, fabrique, et fournit des Sondes d'AFM/SPM pour toutes les applications et tous les principaux constructeurs. NanoStructures Appliqué fournissent également des nanostructures variés comprenant MEMS et SPM spécialisé sonde pour la plupart des applications.

Notre mission est de fournir les Sondes d'AFM les plus de haute qualité et SPM sonde pour des applications normales, avancées et personnalisées à une vitesse plus rapide et à plus de prix abordable que nos concurrents.

En plus de te fournir notre catalogue normal des produits, NanoStructures Appliqué a plaisir à fonctionner avec des abonnées pour développer les sondes ou les dispositifs neufs pour des applications développées.

Introduction

AppNano A Dopé des offres de Sondes de Diamant par combinaison unique de dureté et d'extrémité de conduite. Le côté d'extrémité de ces derniers sonde est enduit du diamant polycristallin. Le film de diamant est in-situ enduit du bore pour l'effectuer conduisant hautement. Le côté réflexe de l'encorbellement est enduit de l'Aluminium. Ces sondes nanofabricated utilisant le silicium fortement dopé de monocristal avec l'unique reproductibilité et la robustesse.

Caractéristiques d'Extrémité

Les specificatios d'extrémité sont comme suit :

  • Matériau : Silicium
  • Forme : Pyramide Triangulaire
  • Hauteur (µm) : 14-16
  • ROC (nanomètre) : 100 - 300
  • Résistivité (MW.cm) : 25

Caractéristiques En Porte-à-faux

Les caractéristiques en porte-à-faux sont comme suit :

  • Matériau : Silicium
  • Forme : Rectangulaire
  • Couche Avant : Diamant Dopé par 100nm
  • Couche Réflexe : Aluminium
  • Incisions de Cadrage : OUI

Modèles Disponibles

Les modèles disponibles sont comme suit :

  • DD-ACTA : Sonde De non contact/Filetante Normale de Mode enduite du Diamant Dopé
  • DD-FORTA : Sonde Normale de Modulation de Force enduite du Diamant Dopé
  • DD-SICONA : Sonde Normale de Mode de Contact enduite du Diamant Dopé

Source : NanoStructures Appliqué

Pour plus d'informations sur cette source visitez s'il vous plaît NanoStructures Appliqué.

Date Added: Jul 30, 2010 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 04:06

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