薄酥餅級別光學 - 簡介和解決方法可用為薄酥餅級別光學由 EV 組

包括的事宜

概覽
薄酥餅級別照相機 (WLCs)
主要印花稅製造
紫外 Microlens 造型
對齊的紫外接合

概覽

在現代電子設備例如數字照相機,移動電話,可移植的賭博控制臺,膝上型計算機或 netbooks,微光學的系統是現實世界和圖像傳感器的微電子學的之間果斷界面在照相機模塊裡面的。 當前,使用源遠流長的半導體技術,照相機模塊集合的普通概念經過從分離集合的一個轉移與薄酥餅級的綜合化。 薄酥餅級的照相機已經開始替換常規模塊由於更小的形狀因子和更加低價的性能比例。

薄酥餅級別照相機 (WLCs)

薄酥餅級別照相機 (WLCs)是所有單個動作被製造在薄酥餅級別和然後被結合形成包括 CMOS 圖像傳感器和微型光學棧的 (CIS)一個單件提高這臺照相機的輕的獲取效率的設備。

紫外版本記錄石版印刷,原來地開發為結構的高消費的副本在毫微米範圍的,在高度並行質量製造進程中現在被認為為薄酥餅級的光學的製造的一個強大的工具。

EV 組提供製造商各種各樣的解決方法,包括光學要素的主要印花稅製造、副本和綜合化在其源遠流長的掩模對準和 nanoimprint 石版印刷系統基礎上的薄酥餅級別。 其產品投資組合是高度多才多藝的,使客戶實施高度自定義的硬件和軟件進程。 加上工藝過程開發和優化在 EV 組的清潔的房間設施, EV 組提供一個總解決方法從系統構成和製造給處理綜合化和材料技術。

一個典型的薄酥餅級的照相機模塊的要素包括一塊 CMOS 圖像傳感器、聚合物透鏡被鑄造在玻璃承運人上由紫外版本記錄石版印刷,間隔號和開口層,如此分解圖所顯示。
來源: EVG.

主要印花稅製造

從在步驟和重複 (S&R) 途徑的一塊單鏡頭模板是薄酥餅大小模板充分地填寫與 microlens 模子其中每一個複製的重要資料印花稅。 開始從從金屬或玻璃做的一份單鏡頭重要資料, EV 組提供包括以 <100nm 為特色的不匹配透鏡位置準確性主要印花稅製造的所有重要處理步驟,并且對於生產是必需的高透鏡形狀反覆性高端薄酥餅成水平照相機模塊的一個流程。

EV 組以為特色的各自的 S&R 進程步驟:

  • 高精度確定在薄酥餅間的單鏡頭模板
  • 小滴分與主要印花稅材料
  • 楔住補償的強制或距離受控制高精密度的第一個版本記錄
  • 紫外風險
  • Demolding

為詳細信息请請參見我們的相關產品 EVG®770 Gen II NILStepper

紫外 Microlens 造型

虛擬紫外版本記錄石版印刷是聚合物 microlenses,薄酥餅級別光學系統的關鍵字元的製造的一個高度並行技術。 開始從從薄酥餅大小重要資料印花稅複製的軟的運作的印花稅,提供雜種和整體 microlens 鑄造可以容易地適應從事印花稅和 microlens 材料的多種物質組合的進程的 EV 組。 另外,提供合格的 microlens 鑄造進程包括所有相關物質技術的 EV 組

虛擬紫外版本記錄石版印刷為唯一和雙副透鏡造型設置了。
來源: EVG.

EV 組以為特色的各自的紫外造型進程步驟:

  • 水坑分與光學預聚物
  • 楔住補償的強制或距離受控制對齊的版本記錄
  • 紫外風險
  • Demolding

為詳細信息请請參見我們的相關產品智商 Aligner®

選拔端 300mm 虛擬紫外版本記錄石版印刷製造的透鏡薄酥餅。
來源: EVG.

對齊的紫外接合

最終微光學棧由所有要素紫外接合製造,包括要求的各自的雙副 microlens 薄酥餅以及間隔號薄酥餅達到最終棧高度。 關鍵的參數是透鏡對間隔號對準線準確性,發生的政券界面和薄酥餅處理量的總厚度差異。

紫外保稅的微光學堆積包括透鏡薄酥餅和間隔號薄酥餅。
來源: EVG.

EV 組以為特色的各自的處理步驟:

  • 楔子補償的對齊的紫外債券
  • 紫外風險

微光學棧的各自的透鏡和間隔號薄酥餅在紫外接合之前的。
來源 EVG, Aptina 禮貌。

為詳細信息请請參見我們的相關產品智商 Aligner® 和我們的 Gemini®

來源: EV 組

關於此來源的更多信息请請拜訪 EV 組

Date Added: Jan 17, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 03:58

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