ケルビンのプローブ力の顕微鏡検査 - Nanosurf からのケルビンのプローブ力の顕微鏡検査のために使用できる概要および器械

カバーされるトピック

背景
ケルビンのプローブ力の顕微鏡検査
Nanosurf Nanite
Nanosurf easyScan 2 AFM
Nanosurf FlexAFM

背景

Nanosurf は使いやすい原子力の顕微鏡およびスキャンのトンネルを掘る顕微鏡の (AFM)一流の提供者です (STM)。 私達の製品およびサービスは専門家によって 3D に表面情報を測定し、分析し、示すためにそれらを助けるように世界的に信頼されます。 私達の顕微鏡はコンパクトで、優雅なデザイン、容易な処理、および絶対信頼性によって勝ります。

ケルビンのプローブ力の顕微鏡検査

ケルビンのプローブ力の顕微鏡検査は (KPFM) AFM の拡張です。 技術は Nonnenmacher および協力者によって 1991 年に最初に出版されました。 KPFM を使用して、ローカル仕事関数の情報か先端とサンプル間のローカル接触の電位差を含んでいる画像は記録することができます。

従って SPM S200 のコントローラが付いている Nanite すべてのシステムおよびすべての現在の easyScan 2 つの AFM システムが KPFM を行う原則的にはことができるが、 FlexAFM は最大の KPFM パフォーマンスを示し、このタイプの測定のための選択の器械です。

KPFM の測定。 KPFM のシグナル (左) および絶縁の (酸化物) 表面層に 「スイスの十字の」パターンに置かれたローカル料金の地形 (右の)。 画像礼儀: Marcin Kisiel、 Thilo Glatzel およびバーゼルの大学の Nanocurriculum の学生。

Nanosurf Nanite

問題を解決されたと考慮して下さい。 Nanosurf Nanite を使うと、測定の間に、そして最初に専門家の nano トレーニングに出席しないで現在ではないで nano 測定の何百もの 1 日のサンプルできます。 Nanite のオートメーションの機能および効率は nano 表面の分析に業界標準をします。

Nanosurf Nanite の最初の引くことは高められた効率です。 それはかなり人件費およびトレーニング・タイムを減らし、技術者に委託されるように定期的な測定がする SPM の知識なしで、それにより行われるべき多重、バッチプログラム可能な測定を可能にします。

測定を標準化し、自動的にレポートを生成することは独自で会社の QC を改善しますが、光学分析上の高解像 3D AFM データの付加価値は表面の点検の新しい方法を探索することを可能にし全新しいレベルに QC を持って来ます。

Nanosurf easyScan 2 AFM

原子力の顕微鏡検査は 1986 年に伝導性のサンプルのスキャンのトンネルを掘る顕微鏡検査、即ちそれの限定を克服するために発明されました。 これはなっていて nanoscale でアクセス可能なほとんどあらゆるタイプがの表面 nanoscientists に全新しい応用範囲の上で、 openened。 学生に実用的な Nano 教えることしかし専門家が装置を作動させるように要求するおよび高度の技術はどんなよいですときそのような自由か。

easyScan 2 つ AFM を入力して下さい! Nanosurf easyScan 2 AFM によって、装置を作動させ、学生を教えることはスナップです。 同時に、 easyScan 2 つ AFM は必要性に適するために十分に微調整することができるデマンドが高い研究の強力な表面の分析ツール任せますです。

Nanosurf FlexAFM

Nanosurf の有名にされた 「使い易さ」は FlexAFM の走査ヘッドで一貫して実行されました。 結果は最も適用範囲が広く、最も多目的な AFM です。 空気または液体の環境の、材料または生命科学で、標準イメージ投射または高度の測定のモードの FlexAFM を作動させたいと思うかどうか; それはユーザーとしてあなたに違いを生じません。 FlexAFM を扱うことは簡単な仕事常にです!

ソース: Nanosurf

このソースのより多くの情報のために Nanosurf を訪問して下さい

Date Added: Mar 4, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 07:02

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