켈빈 탐사기 군대 현미경 검사법 - Nanosurf에서 켈빈 탐사기 군대 현미경 검사법을 위해 유효한 개관과 계기

커버되는 토픽

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켈빈 탐사기 군대 현미경 검사법
Nanosurf Nanite
Nanosurf easyScan 2 AFM
Nanosurf FlexAFM

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Nanosurf는 사용하기 편한 원자 군대 현미경 및 스캐닝 터널을 파 현미경의 (AFM) 주요한 공급자입니다 (STM). 우리의 제품 및 서비스는 전문가에 의해 3D에게 지상 정보를 측정하고, 분석하고, 제출하기 위하여 그(것)들을 돕도록 세계전반 신뢰됩니다. 우리의 현미경은 그들의 조밀하고 우아한 디자인, 그들의 쉬운 취급, 및 그들의 절대적인 신뢰도를 통해 능가합니다.

켈빈 탐사기 군대 현미경 검사법

켈빈 탐사기 군대 현미경 검사법은 (KPFM) AFM의 연장입니다. 기술은 Nonnenmacher와 협력자에 의해 1991년에 처음으로 간행되었습니다. KPFM를 사용하여, 현지 일함수에 정보 또는 끝과 견본 사이 현지 접촉 전위차를 포함하는 심상은 기록될 수 있습니다.

SPM S200 관제사를 가진 Nanite 모든 시스템 및 모든 현재 easyScan 2개의 AFM 시스템이 원칙상 KPFM 능력을 발휘 가능하더라도, FlexAFM는 최대 KPFM 성과를 설명하고 그러므로 측정의 이 모형을 위한 선택의 계기입니다.

KPFM 측정. (좌) KPFM 신호와 (맞은) 격리 (산화물) 지상 층에 "스위스 교차하는" 패턴에 있는 둔 현지 책임의 지세. 심상 의례: Marcin Kisiel, Thilo Glatzel 및 바젤의 대학의 Nanocurriculum의 학생.

Nanosurf Nanite

문제를 해결되는 고려하십시오. Nanosurf Nanite로, 측정 도중, 그리고 첫째로 전문가 nano 훈련에 참석할 필요없이 존재할 것이다 필요없이 1 일에 있는 견본의 nano 측정 수백 할 수 있습니다. 업계 표준이 Nanite의 자동화 기능에 의하여 및 효율성은 nano 표면 분석에게 할 것입니다.

Nanosurf Nanite 처음 끌기는 그것의 증가한 효율성입니다. 그것은 중요하게 노동비 및 훈련 시간을 감소시키고, 기술공에게 파견되는 것을 일상적인 측정이 허용하는 SPM 지식 없이, 그로 인하여 능력을 발휘할 다중의, 배치 풀그릴 측정을 허용합니다.

측정을 표준화하고 자동적으로 보고를 생성하는 것은 그 자체로 회사의 QC를 향상할 것입니다, 그러나 광학적인 분석에 고해상도 3D AFM 데이터의 부가 가치는 지상 검사에 있는 새로운 쪽을 탐구하는 것을 허용하고, 전체적인 새로운 수준에 QC를 가져올 것입니다.

Nanosurf easyScan 2 AFM

원자 군대 현미경 검사법은 1986년에 전도성 견본의 스캐닝 터널을 파 현미경 검사법, 즉 그것의 제한을 극복하기 위하여 발명되었습니다. 이것은 nanoscale에 접근 가능한 표면의 거의 아무 모형나 nanoscientists에 전체적인 새로운 채용 범위 높은 쪽으로, 되는 상태에서 openened. 그러나 전문가가 장비를 작전할 것을 요구할 때 그 같은 자유, 및 향상된 기술은 학생에게 실제적인 Nano 가르치게 무슨 좋 입니까?

easyScan 2개 AFM를 넣으십시오! Nanosurf easyScan 2 AFM로, 장비를 작전하고 학생을 가르치는 것은 스냅입니다. 동시에, easyScan 2개 AFM는 필요를 적응시키기 위하여 완전히 꼬집힐 수 있는 지나치게 요구하는 연구에서 조차 강력한 지상 분석 툴, 할당합니다입니다.

Nanosurf FlexAFM

Nanosurf의 명망이 있던 "사용 용이"는 FlexAFM 검사 헤드에서 일관되게 실행되었습니다. 결과는 이제까지 가장 유연하고 가장 다재다능한 AFM입니다. 공기 또는 액체 환경에서, 물자 생명 공학에서, 표준 화상 진찰 또는 향상된 측정 최빈값에서 FlexAFM를 작전하고 싶다는 것을; 그것은 사용자로 당신 효과를 내지 않습니다. FlexAFM를 취급하는 것은 항상 누워서 떡먹기 입니다!

근원: Nanosurf

이 근원에 추가 정보를 위해 Nanosurf를 방문하십시오

Date Added: Mar 4, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 07:04

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