Microscopia da Força da Ponta De Prova de Kelvin - Vista Geral e Instrumentos Disponíveis para a Microscopia da Força da Ponta De Prova de Kelvin de Nanosurf

Assuntos Cobertos

Fundo
Microscopia da Força da Ponta De Prova de Kelvin
O Nanosurf Nanite
O Nanosurf 2 easyScan AFM
O Nanosurf FlexAFM

Fundo

Nanosurf é um fornecedor principal de microscópios atômicos fáceis de usar da força (AFM) e de microscópios da escavação de um túnel da exploração (STM). Nossos produtos e serviço são confiados por profissionais no mundo inteiro para ajudá-los a medir, analisar, e apresentar a 3D a informação de superfície. Nossos microscópios primam com seu projecto compacto e elegante, de sua manipulação fácil, e sua confiança absoluta.

Microscopia da Força da Ponta De Prova de Kelvin

A Microscopia da Força da Ponta De Prova de Kelvin (KPFM) é uma extensão do AFM. A técnica foi publicada primeiramente em 1991 por Nonnenmacher e por colegas de trabalho. Usando KPFM, as imagens podem ser gravadas que contêm a informação na função de trabalho local ou a diferença potencial local de contacto entre a ponta e a amostra.

Embora todos os sistemas de Nanite com um controlador de SPM S200 e todos os 2 sistemas easyScan actuais do AFM fossem em princípio capazes de executar KPFM, o FlexAFM demonstrou o melhor desempenho de KPFM e é conseqüentemente o instrumento da escolha para este tipo de medida.

Medida de KPFM. Sinal de KPFM (esquerdo) e Topografia (direita) das cargas locais que foram colocadas (óxido) em uma camada de superfície de isolamento em um teste padrão “transversal” Suíço. Cortesia de Imagem: Marcin Kisiel, Thilo Glatzel e estudantes do Nanocurriculum da Universidade de Basileia.

O Nanosurf Nanite

Considere seus problemas resolvidos. Com o Nanosurf Nanite, você pode centenas da nano-medida de amostras em um dia sem tem que esta presente durante medidas, e sem ter que primeiramente atender ao nano-treinamento do especialista. As capacidades e a eficiência da automatização do Nanite farão a análise da nano-superfície o padrão do sector.

A tracção inicial de Nanosurf o Nanite é sua eficiência aumentada. Permite as medidas múltiplas, grupo-programáveis a ser executadas sem o conhecimento de SPM, reduzindo desse modo significativamente custos laborais e tempo de treinamento, e permitindo que as medidas rotineiras sejam delegadas aos técnicos.

Estandardizar medidas e automaticamente gerar relatórios melhorarão sós o QC da sua empresa, mas o valor adicionado de dados de alta resolução de 3D AFM sobre análises ópticas permitirá que você explore maneiras novas na inspecção de superfície, e trará seu QC a um nível novo inteiro.

O Nanosurf 2 easyScan AFM

A microscopia Atômica da força foi inventada em 1986 para superar as limitações da microscopia da escavação de um túnel da exploração, a saber de que de amostras condutoras. Isto openened acima de uma escala de aplicações nova inteira aos nanoscientists, com o quase qualquer tipo de superfície que torna-se acessível no nanoscale. Mas que bom é tal liberdade quando exige especialistas operar o equipamento, e habilidades avançadas ensinar Nano prático aos estudantes?

Incorpore os 2 easyScan AFM! Com o Nanosurf 2 easyScan AFM, operar o equipamento e ensinar seus estudantes são uma pressão. Ao mesmo tempo, os 2 easyScan AFM são uma ferramenta de análise de superfície poderosa que possa inteiramente ser tweaked para serir suas necessidades, mesmo na pesquisa de exigência encarregam-se.

O Nanosurf FlexAFM

A “acessibilidade ilustre” de Nanosurf foi executada consistentemente na cabeça de varredura de FlexAFM. O resultado é o AFM o mais flexível e o mais versátil nunca. Se você quer operar o FlexAFM no ar ou em ambientes líquidos, nos Materiais ou na Ciência da Vida, na imagem lactente padrão ou em modos de medição avançados; não lhe faz nenhuma diferença como um usuário. Segurar o FlexAFM é sempre um pedaço de bolo!

Source: Nanosurf

Para obter mais informações sobre desta fonte visite por favor Nanosurf

Date Added: Mar 4, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 07:14

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit