凯尔文探测强制显微学 - 概览和仪器可用为凯尔文探测从 Nanosurf 的强制显微学

包括的事宜

背景
凯尔文探测强制显微学
Nanosurf Nanite
Nanosurf easyScan 2 AFM
Nanosurf FlexAFM

背景

Nanosurf 是易用基本强制显微镜和扫描挖洞显微镜 (AFM)一位主导的提供者 (STM)。 我们的产品和服务由专业人员委托全世界帮助他们评定,分析和存在 3D 表面信息。 我们的显微镜通过他们的紧凑和典雅的设计,他们容易处理和他们的绝对信度擅长。

凯尔文探测强制显微学

凯尔文探测强制显微学 (KPFM)是 AFM 扩展名。 这个技术在 1991年首先被发布了由 Nonnenmacher 和工友。 使用 KPFM,包含关于局部功函的信息或技巧和范例之间的局部接触电位差的图象可以被记录。

虽然与 SPM S200 管理员的所有 Nanite 系统和所有当前 easyScan 2 个 AFM 系统原则上能够执行 KPFM,因此 FlexAFM 展示了最佳的 KPFM 性能并且是选择的仪器此种评定的。

KPFM 评定。 KPFM 信号 (左) 和地势 (正确在一个绝缘的) 地方收费 (氧化物) 表层安置在 “瑞士交叉”模式。 镜象: Marcin Kisiel,巴塞尔大学的 Nanocurriculum 的 Thilo Glatzel 和学员。

Nanosurf Nanite

考虑您的问题解决。 Nanosurf Nanite,您能纳诺评定数百范例在一天,而不必是存在评定期间和,而不必首先出席专家纳诺培训。 Nanite 的自动化功能和效率将做纳诺表面分析工业标准。

Nanosurf Nanite 的最初的凹道是其增加的效率。 它允许多个,批可编程序的评定将执行,不用 SPM 知识,从而极大减少人工成本和训练时间和允许定期评定被委派对技术人员。

标准化评定和自动生成报表独自将改进您的公司的 QC,但是高分辨率 3D AFM 数据的增值在光学分析的将允许您测试在表面检验的新的方式和给一个全部的新的级别带来您的 QC。

Nanosurf easyScan 2 AFM

基本强制显微学在 1986年被发明解决扫描挖洞显微学,即导电性范例那的限制。 这 openened 一个全部的新的应用范围对 nanoscientists,当几乎任一种表面变得可访问在 nanoscale。 但是什么好是这样自由,当它要求专家运行设备时和先进的技能教实用纳诺对学员?

输入 easyScan 2 AFM! Nanosurf easyScan 2 AFM,运行设备和教您的学员是短冷期。 同时, easyScan 2 AFM 是可以充分地被调整配合您的需要的一个强大的表面分析工具,甚而在过分要求的研究分配。

Nanosurf FlexAFM

Nanosurf 的使有名望的 “易用”在 FlexAFM 扫瞄头一贯地被实施了。 这个结果是最灵活和最多才多艺的 AFM。 您是否要运行 FlexAFM 在航空或在液体环境里,在材料或生命科学,在标准想象或在先进的评定的模式下; 它不产生变化给您作为用户。 处理 FlexAFM 总是轻松的事!

来源: Nanosurf

关于此来源的更多信息请参观 Nanosurf

Date Added: Mar 4, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 06:44

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