凱爾文探測強制顯微學 - 概覽和儀器可用為凱爾文探測從 Nanosurf 的強制顯微學

包括的事宜

背景
凱爾文探測強制顯微學
Nanosurf Nanite
Nanosurf easyScan 2 AFM
Nanosurf FlexAFM

背景

Nanosurf 是易用基本強制顯微鏡和掃描挖洞顯微鏡 (AFM)一位主導的提供者 (STM)。 我們的產品和服務由專業人員委託全世界幫助他們評定,分析和存在 3D 表面信息。 我們的顯微鏡通過他們的緊湊和典雅的設計,他們容易處理和他們的绝對信度擅長。

凱爾文探測強制顯微學

凱爾文探測強制顯微學 (KPFM)是 AFM 擴展名。 這個技術在 1991年首先被發布了由 Nonnenmacher 和工友。 使用 KPFM,包含關於局部功函的信息或技巧和範例之間的局部接觸電位差的圖像可以被記錄。

雖然與 SPM S200 管理員的所有 Nanite 系統和所有當前 easyScan 2 個 AFM 系統原則上能够執行 KPFM,因此 FlexAFM 展示了最佳的 KPFM 性能并且是選擇的儀器此種評定的。

KPFM 評定。 KPFM 信號 (左) 和地勢 (正確在一個绝緣的) 地方收費 (氧化物) 表層安置在 「瑞士交叉」模式。 鏡像: Marcin Kisiel,巴塞爾大學的 Nanocurriculum 的 Thilo Glatzel 和學員。

Nanosurf Nanite

考慮您的問題解決。 Nanosurf Nanite,您能納諾評定數百範例在一天,而不必是存在評定期間和,而不必首先出席專家納諾培訓。 Nanite 的自動化功能和效率將做納諾表面分析工業標準。

Nanosurf Nanite 的最初的凹道是其增加的效率。 它允許多個,批可編程序的評定將執行,不用 SPM 知識,從而極大減少人工成本和訓練時間和允許定期評定被委派对技術人員。

標準化評定和自動生成報表獨自將改進您的公司的 QC,但是高分辨率 3D AFM 數據的增值在光學分析的將允許您測試在表面檢驗的新的方式和給一個全部的新的級別帶來您的 QC。

Nanosurf easyScan 2 AFM

基本強制顯微學在 1986年被發明解決掃描挖洞顯微學,即導電性範例那的限制。 這 openened 一個全部的新的應用範圍對 nanoscientists,当幾乎任一種表面變得可訪問在 nanoscale。 但是什麼好是這樣自由,當它要求專家運行設備時和先進的技能教實用納諾對學員?

輸入 easyScan 2 AFM! Nanosurf easyScan 2 AFM,運行設備和教您的學員是短冷期。 同時, easyScan 2 AFM 是可以充分地被調整配合您的需要的一個強大的表面分析工具,甚而在過分要求的研究分配。

Nanosurf FlexAFM

Nanosurf 的使有名望的 「易用」在 FlexAFM 掃瞄頭一貫地被實施了。 這個結果是最靈活和最多才多藝的 AFM。 您是否要運行 FlexAFM 在航空或在液體環境裡,在材料或生命科學,在標準想像或在先進的評定的模式下; 它不產生變化给您作為用戶。 處理 FlexAFM 總是輕鬆的事!

來源: Nanosurf

關於此來源的更多信息请請參觀 Nanosurf

Date Added: Mar 4, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 06:47

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