Análisis de la membrana del ePTFE usando los 2 easyScan AFM de Nanosurf

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Antecedentes
Introducción
Analizando la Membrana del ePTFE usando el Nanosurf 2 easyScan AFM

Antecedentes

Nanosurf es proveedor de cabeza de los microscopios atómicos fáciles de usar de la fuerza (AFM) y de los microscopios el hacer un túnel de la exploración (STM). Nuestros productos y servicios son de confianza por los profesionales por todo el mundo ayudarles para medir, para analizar, y para presentar a 3D la información superficial. Nuestros microscopios sobresalen con su diseño compacto y elegante, su manipulación fácil, y su confiabilidad absoluta.

Introducción

El ePTFE de la abreviatura representa polytetrafluorethylene desplegado, también conocido como Teflon desplegado. Las propiedades mecánicas y médicas del material dependen en gran medida de cómo el Teflon fue desplegado (mono o biaxial) y en las estructuras de red resultantes del ePTFE. Debido a sus propiedades inertes dentro de un cuerpo humano, ePTFE es de uso frecuente como material del implante. Los espacios vacíos dentro de la estructura de red animan el incremento del tejido suave en tales implantes, que ayuda al asimiento el implante en el lugar rápidamente. Hay muchas maneras diferentes de desplegar PTFE, todo de cabeza a diversas estructuras de red. Es por lo tanto muy importante verificar que la estructura deseada del ePTFE fue obtenida después del proceso de extensión.

Analizando la Membrana del ePTFE usando el Nanosurf 2 easyScan AFM

En esta nota de aplicación, analizábamos una membrana del ePTFE usando el Nanosurf 2 easyScan AFM. La imagen de la topografía abajo muestra sin obstrucción la estructura de red compleja de la muestra. La longitud de las fibras y la talla-distribución de los nudos se pueden analizar convenientemente usando las herramientas de la medición integradas en el software de mando de Nanosurf.

Comparado al método convencional usado para este análisis - proyección de imagen de la microscopia electrónica de la exploración, donde una película del oro se debe primero evaporar sobre la muestra del ePTFE en vacío para hacerlo conductor - el AFM es mucho más rápido y más fácil de realizarse. Con el AFM, el ePTFE se puede medir directamente, sin ningún tratamiento anterior de la muestra.

Eligiendo una paleta de colores del grayscale, las imágenes del AFM pueden parecer muy similares a las imágenes de SEM que utilizan a los representantes técnicos en este campo a. En contraste con SEM, sin embargo, las imágenes de la topografía del AFM contienen la información cuantitativa de la profundidad debido a la misma naturaleza de los datos registrados.

cortesía de la muestra del ePTFE Co. médicos Ltd. de los implantes de Shangai Suokang

Fuente: Nanosurf

Para más información sobre esta fuente visite por favor Nanosurf

Date Added: Mar 4, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 07:20

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