Analisi della membrana del ePTFE facendo uso dei 2 easyScan AFM da Nanosurf

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Analizzando la Membrana del ePTFE facendo uso del Nanosurf 2 easyScan AFM

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Nanosurf è un fornitore principale dei microscopi atomici di facile impiego della forza (AFM) e dei microscopi di traforo di scansione (STM). I Nostri prodotti e servizi si fidano di dai professionisti universalmente per aiutarli per misurare, analizzare e presentare a 3D le informazioni di superficie. I Nostri microscopi eccellono con la loro progettazione compatta ed elegante, la loro manipolazione facile e la loro affidabilità assoluta.

Introduzione

Il ePTFE di abbreviazione corrisponde a polytetrafluorethylene ampliato, anche conosciuto come Teflon in espansione. I beni meccanici e medici del materiale dipendono forte da come il Teflon è stato spiegato (mono o biassialmente) e le strutture di rete risultanti del ePTFE. dovuto i sui beni inerti dentro un corpo umano, ePTFE è usato spesso come materiale dell'innesto. Gli spazi vuoti dentro la struttura di rete incoraggiano la crescita del tessuto molle in tali innesti, che aiuta rapidamente la tenuta l'innesto sul posto. Ci sono molti modi diversi di espandere PTFE, tutto il principale alle strutture di rete differenti. È quindi molto importante verificare che la struttura desiderata del ePTFE sia stata ottenuta dopo il trattamento di espansione.

Analizzando la Membrana del ePTFE facendo uso del Nanosurf 2 easyScan AFM

In questa nota di applicazione, abbiamo analizzato una membrana del ePTFE facendo uso del Nanosurf 2 easyScan AFM. L'immagine della topografia qui sotto mostra chiaramente la struttura di rete complessa del campione. La lunghezza delle fibre e la dimensione-distribuzione dei nodi possono essere analizzate convenientemente facendo uso degli strumenti di misura integrati nel software di controllo di Nanosurf.

Confrontato al metodo convenzionale impiegato per questa analisi - rappresentazione di microscopia elettronica di scansione, dove una pellicola dell'oro deve in primo luogo essere evaporata sul campione del ePTFE nel vuoto per renderlo conduttivo - il AFM è molto più veloce e più facile da eseguire. Con il AFM, il ePTFE può essere misurato direttamente, senza alcun trattamento priore del campione.

Scegliendo una tavolozza di colore di gradazione di grigio, le immagini del AFM possono guardare molto simili alle immagini di SEM che gli ingegneri in materia sono usati a. Contrariamente a SEM, tuttavia, le immagini della topografia del AFM contengono le informazioni quantitative di profondità dovuto la natura stessa dei dati registrati.

cortesia del campione del ePTFE Co. medici Srl degli innesti di Shanghai Suokang.

Sorgente: Nanosurf

Per ulteriori informazioni su questa sorgente visualizzi prego Nanosurf

Date Added: Mar 4, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 06:59

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