Análise da membrana do ePTFE usando os 2 easyScan AFM de Nanosurf

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Introdução
Analisando a Membrana do ePTFE usando o Nanosurf 2 easyScan AFM

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Nanosurf é um fornecedor principal de microscópios atômicos fáceis de usar da força (AFM) e de microscópios da escavação de um túnel da exploração (STM). Nossos produtos e serviço são confiados por profissionais no mundo inteiro para ajudá-los a medir, analisar, e apresentar a 3D a informação de superfície. Nossos microscópios primam com seu projecto compacto e elegante, de sua manipulação fácil, e sua confiança absoluta.

Introdução

O ePTFE da abreviatura representa o polytetrafluorethylene expandido, igualmente sabido como o Teflon expandido. As propriedades mecânicas e médicas do material dependem fortemente de como o Teflon foi expandido (mono ou biaxiaa) e nas estruturas de rede resultantes do ePTFE. Devido a suas propriedades inertes dentro de um corpo humano, ePTFE é usado frequentemente como um material do implante. Os espaços vazios dentro da estrutura de rede incentivam o crescimento do tecido macio em tais implantes, que ajuda a posse o implante no lugar rapidamente. Há muitas maneiras diferentes de expandir PTFE, toda principal às estruturas de rede diferentes. É conseqüentemente muito importante verificar que a estrutura desejada do ePTFE estêve obtida após o processo de expansão.

Analisando a Membrana do ePTFE usando o Nanosurf 2 easyScan AFM

Nesta nota de aplicação, nós analisamos uma membrana do ePTFE usando o Nanosurf 2 easyScan AFM. A imagem da topografia abaixo mostra claramente a estrutura de rede intrincada da amostra. O comprimento das fibras e a tamanho-distribuição dos nós podem convenientemente ser analisados usando as ferramentas da medida integradas no software de controle de Nanosurf.

Comparado ao método convencional usado para esta análise - imagem lactente da microscopia de elétron da exploração, onde um filme do ouro deve primeiramente ser evaporado na amostra do ePTFE no vácuo para o fazer condutor - o AFM é muito mais rápido e mais fácil de executar. Com o AFM, o ePTFE pode ser medido directamente, sem nenhum tratamento prévio da amostra.

Escolhendo uma paleta de cores do grayscale, as imagens do AFM podem olhar muito similares às imagens de SEM que os coordenadores neste campo estão usados a. Em contraste com SEM, contudo, as imagens da topografia do AFM contêm a informação quantitativa da profundidade devido à natureza mesma dos dados gravados.

cortesia da amostra do ePTFE Co. médicos Ltd. dos implantes de Shanghai Suokang

Source: Nanosurf

Para obter mais informações sobre desta fonte visite por favor Nanosurf

Date Added: Mar 4, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 07:14

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