Анализ мембраны ePTFE используя easyScan 2 AFM от Nanosurf

Покрытые Темы

Предпосылка
Введение
Анализирующ Мембрану ePTFE используя Nanosurf easyScan 2 AFM

Предпосылка

Nanosurf ведущий провайдер легких в использовании атомных микроскопов усилия (AFM) и микроскопов прокладывать тоннель скеннирования (STM). Доверены, что профессионалами всемирно помогают Наши продукты и обслуживания им для того чтобы измерить, проанализировать, и представить 3D поверхностную информацию. Наши микроскопы первенствуют через их компактную и шикарную конструкцию, их легкий регулировать, и их абсолютную надежность.

Введение

EPTFE аббревиатуры стоит для расширенного polytetrafluorethylene, также как расширенный Тефлон. Механически и медицинские свойства материала зависят сильно на как Тефлон был расширен (mono или двухосно) и на приводя к структурах сети ePTFE. Должно к своим инертным свойствам внутри человеческого тела, ePTFE часто использует как материал implant. Пустые космосы внутри структуры сети ободряют рост мягкой ткани в такие implants, которая помогает владению implant в месте быстро. Много другой способ расширить PTFE, совсем ведущее к различным структурам сети. Поэтому очень важно проверить что пожеланная структура ePTFE была получена после процесса расширения.

Анализирующ Мембрану ePTFE используя Nanosurf easyScan 2 AFM

В этом примечании по применению, мы проанализировали мембрану ePTFE используя Nanosurf easyScan 2 AFM. Изображение топографии ниже ясно показывает затейливую структуру сети образца. Длину волокон и распределение по размеру узлов можно удобно проанализировать используя инструменты измерения интегрированные в контрольной программе Nanosurf.

Сравнено к обычному методу используемому для этого анализа - воображения электронной микроскопии скеннирования, где фильм золота необходимо сперва испариться на образец ePTFE в вакууме для того чтобы сделать его проводной - AFM гораздо быстре и легке для того чтобы выполнить. С AFM, ePTFE можно измерить сразу, без любой прежней обработки образца.

Путем выбирать палитру цвета серой шкалы, изображения AFM могут посмотреть очень подобными к изображениям SEM что инженеры в этом поле использованы к. В отличие от SEM, однако, изображения топографии AFM содержат количественные данные по глубины должные к очень природе зафиксированных данных.

учтивость образца ePTFE CO. Ltd. implants Шанхая Suokang медицинские

Источник: Nanosurf

Для больше информации на этом источнике пожалуйста посетите Nanosurf

Date Added: Mar 4, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 07:17

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit