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背景
這些圖像是如何獲得他們告訴我們什麼呢 ？
暗場的石墨顆粒複合材料的TEM照片
襯底的高清晰度成像
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黃等。Cornall大學產生了一些類似絎縫被石墨粒的驚人圖像。這些圖像已發表在“自然”。
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這些圖像是如何獲得他們告訴我們什麼呢？
要獲得這些圖像，研究人員利用透射電子顯微鏡和衍射過濾成像顯示的位置，方向和數以百計的石墨顆粒邊界。他們的研究結果證實，晶界弱化的石墨的機械強度，但無顯著影響的電氣性能。
暗場的石墨顆粒複合材料的TEM照片
下面你將看到的石墨顆粒複合假色，暗場透射電子顯微鏡照片。在此圖像中，每個顏色代表不同的晶體取向石墨。這些圖像是通過收購了10 納米的氮化矽窗口，並在康奈爾大學Pinshane黃。
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黃原來的工作是用微孔TEM成像後的背景減法的電影。目前的工作和今後的研究中正在使用TEMwindows“強大和超薄的10納米氮化矽，它提供了一個很好的背景免費成像子在康奈爾大學進行。
明亮的修補程序表示一個〜10範圍內的晶體取向的石墨顆粒。在左側，石墨的晶粒結構的一個完整的畫面是很難的，因為厚厚的膜阻礙了大部分的格子。移動（右）薄窗口，我們可以得到可比的對比，同時觀看較大的連續地區。右側圖像的粒子是從一個骯髒的石墨烯樣本，而不是網格。比例尺是2微米。
襯底的高清晰度成像
TEMwindows.com建議納米粒子或納米管的高清晰度成像以下TEM窗口電網：
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TEMwindows.com成像和納米材料的分析提供創新的樣品製備解決方案 。TEMwindows.com的國家的最先進的透射電子顯微鏡的窗口，使研究人員能夠表徵其尖端的納米材料。通過採用最新的MEMS薄膜技術， TEMwindows.com提供的資源，以促進他們的研究和發展計劃的研究人員。
此信息已採購，審查和改編自TEMwindows.com，SiMPore分工提供的材料。
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