Caracterización de Nanostructures Usando El Método del ATÚN de PeakForce

Por los Editores de AZoNano

Índice

Introducción
Caracterización de Nanostructures
Selección de Antena en el ATÚN de PeakForce
Conclusiones
Bruker

Introducción

Formulario de Nanostructures el Web el cual se emplean varios dispositivos electrónicos. Por Lo Tanto, es importante analizar y estudiar sus estructuras eléctricas. Las secciones subsiguientes proporcionan a un análisis detallado de los datos cerco estudiando muestras delicadas usando el método del ATÚN de PeakForce.

Caracterización de Nanostructures

La topografía y la correspondencia actual obtenidas por el método del ATÚN de PeakForce aplicado en los nanotubes del carbón que se conectan con las pistas conductoras colocadas encima del substrato2 de SiO/Si se representa en el Cuadro 1.

(a)

(b)

Cuadro 1. correspondencia actual de la topografía de las imágenes del ATÚN de PeakForce (a) (b) de los nanotubes del carbón que mienten completamente en una muestra2 de SiO/Si. Las Imágenes fueron tomadas en Dimension® Icon® AFM de Bruker en condiciones ambiente, con una antena de SCM-PIT (constante del muelle ~4N/m), exploración 5micron en un polarizado de la muestra de DC de 500mV. Cortesía de la Muestra de Profesor La Haya, Rice University.

La imagen topográfica muestra todos los nanotubes sin obstrucción, que implica que todos son conductores conectados con las pistas conductoras. Los nanoparticles denso pila de discos también reveladores de la imagen, que son probablemente residuos formaron durante la formación de la muestra. La conductividad de estas partículas no puede ser analizada pues no se conectan con las pistas de conducto. Esta punta es confirmada por su ausencia en la correspondencia actual. Una variación en la conductividad fue observada en la cual podría ser atribuido a su presencia o a lo largo de los tubos. Aunque los nanotubes sean delicados, pueden ser activados con la punta del AFM (para el Modo de Contacto AFM) pues el substrato es duro. Al usar el ATÚN de PeakForce, la punta de SCM-PIT (platino-iridio recubierto) se puede tolerar por horas extendidas sin el substrato que lo erosiona.

Para hacer un estudio comparativo, la misma muestra era reflejada usando el método Torsional del ATÚN. Fue observado que el trazo de la conductividad era mucho más ancho, que podría ser debido a estremecerse lateral de la antena del AFM durante uso. Figure el presente de 2a y de b las imágenes del ATÚN de PeakForce de la estera de los nanotubes del carbón que es vertical y multi-emparedada y colocada en un substrato conductor.

El Cuadro 2. correspondencia actual máxima de la escala de la topografía 50nm de las imágenes del ATÚN de PeakForce (a) (b) (1 escala del nA) de una vertical multi-emparedó la estera del nanotube del carbón en un substrato conductor. Las Imágenes fueron tomadas en los 8 Con varios modos de funcionamiento AFM de Bruker en ambiente, con la antena de SCM-PIT (constante del muelle ~4N/m), exploración del 1ìm en una fuerza máxima de 10nN, y el polarizado de DC de -1V. Correspondencia actual de la escala de la topografía de las imágenes de TR-TUNA (c) 100nm (d) (escala 1nA) para la comparación.

La imagen muestra los casquillos de extremo de los nanotubes. En la correspondencia actual, la conductividad no fue mostrada por todos los nanotubes multi-emparedados, manojos bastante diversos mostrados variaciones en conductividad. Esta variación podría ser debido a la diferencia de la manera de la cual se conectan los nanotubes o el efecto de capsular sobre los tubos. Cuando el Modo de Contacto fue utilizado en la proyección de imagen no se obtuvo ningunas imágenes estables; el ATÚN torsional dio una imagen actual que difirió de ésa obtenida del ATÚN de PeakForce. Las imágenes del ATÚN del TR representaron muchas manchas interrumpidas en los únicos tubos que quizá debido a la torcedura lateral que causa el contacto eléctrico intermitente con la superficie.

Selección de Antena en el ATÚN de PeakForce

Mientras Que elige la antena del ATÚN de PeakForce de la derecha, el muelle constante y el material de revestimiento conductor son factores importantes que se considerarán. Las últimas antenas de Bruker se diseñan para el uso con las muestras delicadas suaves. Las antenas están recubiertas con el oro (Au) que tiene constantes del muelle en el rango de 0.4N/m. Las antenas de SCM-PIT tienen una capa del platino-iridio y saltan constante de los aproximadamente 3N/m y son convenientes para trabajar con las muestras frágiles como nanostructures suelto limitados. Para la caracterización orgánica de la célula, las antenas del silicio que están recubiertas con un metal de la función del inferior-trabajo son las más convenientes.

Conclusiones

El método del ATÚN de PeakForce cuando está ejecutado usando la tecnología Que Golpea Ligeramente de la Fuerza Máxima de Bruker es capaz de producir una alta anchura de banda, diseño de poco ruido del amplificador actual con las características de la alta ganancia. Muescas del método del ATÚN de PeakForce sobre el resto de los métodos del AFM en poder trabajar con las muestras frágiles. La proyección de imagen del AFM lograda usando este método está de alta resolución y de exactitud. Por Otra Parte, el algoritmo de ScanAsyst que viene junto con el ATÚN de PeakForce simplifica la optimización de los parámetros de la exploración del AFM. Este método permite que la Fuerza Máxima QNM (nanomechanical cuantitativo) también sea correlacionada, que proporciona a los detalles en la información eléctrica junto con la topografía. La caja de guantes del Bruker es una característica adicional, que toma el cuidado de manejar muestras aire-sensibles correctamente.

Bruker

Las Superficies Nanas de Bruker proporcionan a los productos Atómicos del Microscopio de la Fuerza/del Microscopio de la Antena de la Exploración (AFM/SPM) que se destacan de otros sistemas disponibles en el comercio para su diseño y facilidad de empleo robustos, mientras que mantiene el más de alta resolución. La carga de medición de NANOS, que es parte de todos nuestros instrumentos, emplea un interferómetro fibroóptico único para medir la desviación voladiza, que hace el compacto del ajuste tan que es no más grande que un objetivo estándar del microscopio de la investigación.

Esta información ha sido originaria, revisada y adaptada de los materiales proporcionados por las Superficies Nanas de Bruker.

Para más información sobre esta fuente visite por favor las Superficies Nanas de Bruker.

Date Added: Apr 18, 2011 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:29

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