Caractérisation de Nanostructures Suivre La Méthode de THON de PeakForce

Par des Éditeurs d'AZoNano

Table des matières

Introduction
Caractérisation de Nanostructures
Sélection de Sonde dans le THON de PeakForce
Conclusions
Bruker

Introduction

Forme de Nanostructures le Web sur lequel un certain nombre d'appareils électroniques sont établis. Par Conséquent, il est important d'analyser et étudier leurs structures électriques. Les parties ultérieures fournissent une analyse détaillée des données rassemblées en étudiant les échantillons fragiles suivre la méthode de THON de PeakForce.

Caractérisation de Nanostructures

La topographie et le plan actuel obtenus par la méthode de THON de PeakForce appliquée sur les nanotubes de carbone qui sont connectés aux tampons conducteurs mis sur le substrat2 de SiO/Si est représentée sur le Schéma 1.

(a)

(b)

Le Schéma 1. plan actuel de la topographie des images de THON de PeakForce (a) (b) des nanotubes de carbone se trouvant à plat sur un échantillon2 de SiO/Si. Des Images ont été prises sur Dimension® de Bruker Icon® AFM en conditions ambiantes, avec une sonde de SCM-PIT (constante de source ~4N/m), échographie 5micron à une polarisation d'échantillon de C.C de 500mV. Accueil d'Échantillon de Prof. la Haye, Rice University.

L'image topographique affiche tous les nanotubes de manière dégagée, qui implique que tous sont des conducteurs connectés aux tampons conducteurs. Les nanoparticles en masse bourrés également indiqués d'image, qui sont probablement des résidus ont formé pendant la formation de l'échantillon. La conductivité de ces particules ne peut pas s'analyser car ils ne sont pas connectés aux tampons de conduite. Cette remarque est confirmée par leur absence dans le plan actuel. On a observé une variation de la conductivité sur laquelle pourrait être attribué à leur présence ou le long des tubes. Bien Que les nanotubes soient fragiles, ils peuvent être poussés avec l'extrémité d'AFM (pour Mode de Contact AFM) car le substrat est dur. En utilisant le THON de PeakForce, l'extrémité de SCM-PIT (platine-iridium vêtu) peut être tolérée pendant des heures étendues sans substrat l'érodant.

Afin de faire une étude comparative, le même échantillon était imagé suivre la méthode De Torsion de THON. On l'a observé que la trace de conductivité était beaucoup plus large, qui pourrait être due à hésiter transversal de la sonde d'AFM pendant l'utilisation. Figure le présent de 2a et de b les images de THON de PeakForce du couvre-tapis de nanotubes de carbone qui est vertical et multi-muré et mis sur un substrat conducteur.

Le Schéma 2. plan de courant de pointe de l'échelle de la topographie 50nm des images de THON de PeakForce (a) (b) (1 échelle de Na) d'une verticale multi-a muré le couvre-tapis de nanotube de carbone sur un substrat conducteur. Des Images ont été prises sur 8 À plusieurs modes de fonctionnement AFM de Bruker dans ambiant, avec la sonde de SCM-PIT (constante de source ~4N/m), échographie de 1ìm à une force maximale de 10nN, et à la polarisation de C.C de -1V. Plan actuel de l'échelle de topographie des images de TR-TUNA (c) 100nm (d) (échelle 1nA) pour la comparaison.

L'image affiche des bouchons d'embout des nanotubes. Dans le plan actuel, la conductivité n'a pas été affichée par tous les nanotubes multi-murés, paquets plutôt différents affichés des variations dans la conductivité. Cette variation pourrait être due à la différence de la manière de laquelle les nanotubes sont connectés ou l'effet de recouvrir sur les tubes. Quand le Mode de Contact a été utilisé dans la représentation aucune image stable n'a été obtenue ; le THON de torsion a donné une image actuelle qui a différé de cela obtenue à partir du THON de PeakForce. Les images de THON de TR ont représenté beaucoup d'endroits discontinués sur les tubes uniques qui peut-être en raison de la torsion transversale qui entraînent le contact électrique intermittent avec la surface.

Sélection de Sonde dans le THON de PeakForce

Tout En choisissant la sonde de THON de PeakForce de droite, la constante de source et le matériau de couche conducteur sont des facteurs importants à considérer. Les dernières sondes de Bruker sont conçues pour l'usage avec les échantillons fragiles mous. Les sondes sont enduites de l'or (Au) ayant des constantes de source de l'ordre de 0.4N/m. Les sondes de SCM-PIT ont une couche de platine-iridium et jaillissent constante approximativement de 3N/m et conviennent pour fonctionner avec les échantillons fragiles comme des nanostructures desserré liés. Pour la caractérisation organique de cellules, les sondes de silicium qui sont enduites d'un métal de fonctionnement de faible-travail sont les plus adaptées.

Conclusions

La méthode de THON de PeakForce une fois mise en application utilisant la technologie de Filetage de la Force Maximale de Bruker est capable de produire une largeur de bande de haut, design à faible bruit d'amplificateur de courant avec les configurations à gain élevé. Lignes de refoulage de méthode de THON de PeakForce au-dessus de toutes autres méthodes d'AFM en pouvant fonctionner avec les échantillons fragiles. La représentation d'AFM réalisée suivre cette méthode est de haute résolution et d'exactitude. D'ailleurs, l'algorithme de ScanAsyst qui vient avec le THON de PeakForce simplifie l'optimisation des paramètres de l'échographie de l'AFM. Cette méthode permet à la Force Maximale QNM (nanomechanical quantitatif) également d'être tracée, qui fournit des petits groupes sur l'information électrique avec la topographie. La boîte à gants du Bruker est une caractéristique technique ajoutée, qui prend soin de traiter les échantillons air-sensibles correctement.

Bruker

Les Surfaces Nanoes de Bruker fournit les produits Atomiques de Microscope de Force/de Microscope Sonde de Lecture (AFM/SPM) qui restent à l'extérieur d'autres systèmes disponibles dans le commerce pour leur design et facilité d'utilisation robustes, tout en mettant à jour le plus de haute résolution. Le chef de mesure de NANOS, qui fait partie de tous nos instruments, utilise un seul interféromètre fibreoptique pour mesurer le fléchissement en porte-à-faux, qui effectue le contrat d'installation ainsi qu'il n'est pas plus grand qu'un objectif normal de microscope de recherches.

Cette information a été originaire, révisée et adaptée des matériaux fournis par des Surfaces de Nano de Bruker.

Pour plus d'informations sur cette source visitez s'il vous plaît les Surfaces de Nano de Bruker.

Date Added: Apr 18, 2011 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:09

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