Характеризация Nanostructures Используя Метод ТУНЫ PeakForce

Редакторами AZoNano

Содержание

Введение
Характеризация Nanostructures
Выбор Зонда в ТУНЕ PeakForce
Заключения
Bruker

Введение

Форма Nanostructures сеть на которой несколько электронных устройств построены. Поэтому, важно проанализировать и изучить их электрические структуры. Последующие разделы обеспечивают детальный анализ данных собранных путем изучать чувствительные образцы используя метод ТУНЫ PeakForce.

Характеризация Nanostructures

Топография и настоящая карта полученные методом ТУНЫ PeakForce прикладной на nanotubes углерода которые соединены к проводным пусковым площадкам помещенным na górze субстрата2 SiO/Si представлены в Диаграмме 1.

(a)

(b)

Диаграмма 1. карта топографии изображений ТУНЫ PeakForce (a) (b) настоящая nanotubes углерода лежа плоско на образце2 SiO/Si. Изображения были приняты на Dimension® Icon® AFM Bruker в внешних условиях, с зондом SCM-PIT (весной постоянн ~4N/m), развертка 5micron на смещении образца DC 500mV. Попробуйте учтивость Prof. Гааг, Университета Риса.

Топографическое изображение показывает все nanotubes ясно, которое подразумевает что все них проводники соединенные к проводным пусковым площадкам. Nanoparticles изображения также показанные плотно упакованные, которые вероятно выпарки сформировали во время образования образца. Проводимость этих частиц нельзя проанализировать по мере того как они не соединены к дирижируя пусковым площадкам. Этот пункт подтвержен их отсутствием в настоящей карте. Изменение в проводимости наблюдалось которой смогл быть приписано к их присутсвию на или вдоль пробок. Хотя nanotubes чувствительны, их можно нажать с подсказкой AFM (для Режима Контакта AFM) по мере того как субстрат трудн. При использовании ТУНЫ PeakForce, подсказку SCM-PIT (покрынного платин-иридия) можно допустить на выдвинутые часы без субстрата выветриваясь она.

Для того чтобы сделать сравнительное изучение, такой же образец был imaged используя Крутящий метод ТУНЫ. Наблюдалось что след проводимости был гораздо широке, который смог быть должн к боковой dithering зонда AFM во время пользы. Вычисляйте настоящий момент 2a и b изображения ТУНЫ PeakForce циновки nanotubes углерода которая вертикальная и multi-огороженная и установленная на проводном субстрате.

Диаграмма 2. карта маштаба топографии 50nm изображений ТУНЫ PeakForce (a) (b) пиковая настоящая (1 маштаб nA) вертикали multi-огородила циновку nanotube углерода на проводном субстрате. Изображения были приняты на 8 AFM Bruker Мультимодные в окружающем, с зондом SCM-PIT (весной постоянн ~4N/m), разверткой 1ìm на пиковом усилии 10nN, и смещении DC -1V. Карта маштаба 100nm топографии изображений TR-TUNA (c) (d) настоящая (маштаб 1nA) для сравнения.

Изображение показывает крышки конца nanotubes. В настоящей карте, проводимость не была показана всеми multi-огороженными nanotubes, довольно различными пачками показанными изменения в проводимости. Это изменение смогло быть должно к разнице в путе в котором подключены nanotubes или влияние покрывать на пробках. Когда Режим Контакта был использован в воображении никакие стабилизированные изображения не были получены; крутящая ТУНА дала настоящее изображение которое отличало от того полученного от ТУНЫ PeakForce. Изображения ТУНЫ TR представили много прерыванных пятен на одиночных пробках которые возможно должно к боковой закрутке которое причиняет прерывистый электрический контакт с поверхностью.

Выбор Зонда в ТУНЕ PeakForce

Пока выбирающ зонд ТУНЫ PeakForce права, весна постоянн и материал электропроводящего покрытия важные факторы, котор нужно рассматривать. Зонды Bruker самые последние конструированы для пользы с мягкими чувствительными образцами. Зонды покрыны при золото (Au) имея константы весны в границах 0.4N/m. Зонды SCM-PIT имеют покрытие платин-иридия и скачут константа приблизительно 3N/m и соответствующи для работы с утлыми образцами как свободно прыгнутые nanostructures. Для органической характеризации клетки, зонды кремния которые покрыны с металлом функции низк-работы самые соответствующие.

Заключения

Метод ТУНЫ PeakForce снабжано используя технологию Пикового Усилия Bruker Выстукивая способен производить высокую ширину полосы частот, малошумную конструкцию усилителя тока с характеристиками высок-увеличения. Счеты метода ТУНЫ PeakForce над всеми другими методами AFM в мочь работать с утлыми образцами. Воображение AFM достиганное используя этот метод высоких разрешения и точности. Сверх Того, алгоритм ScanAsyst который приходит вместе с ТУНОЙ PeakForce упрощает оптимизирование параметров развертки AFM. Этот метод позволяет Пиковому Усилию QNM (количественное nanomechanical) также быть отображанным, которое обеспечивает детали на электрической информации вместе с топографией. Бардачок Bruker добавленная характеристика, которая позаботится о регулировать воздух-чувствительные образцы правильно.

Bruker

Поверхности Bruker Nano обеспечивают Атомные продукты Микроскопа Усилия/Микроскопа Зонда Скеннирования (AFM/SPM) которые стоят вне от других имеющих на рынке систем для их робастных конструкции и легкия в использовании, пока поддерживающ самое высокое разрешение. Головка NANOS измеряя, которая часть всех наших аппаратур, использует уникально волоконнооптический интерферометр для измерять консольное отклонение, которое делает компакт настроения так что оно не большле чем стандартная задача микроскопа исследования.

Эта информация найденный, расмотрена и приспособлена от материалов обеспеченных Поверхностями Bruker Nano.

Для больше информации на этом источнике пожалуйста посетите Поверхности Bruker Nano.

Date Added: Apr 18, 2011 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:27

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit