Servicios Analíticos de la Prueba para la Industria del Semiconductor

Índice

Antecedentes
Retos para la Industria del Semiconductor
Nanotecnología de la Reunión de los Semiconductores
Análisis de los Materiales del Semiconductor
Microscopia Electrónica
Áreas en Las Cuales la Microscopia Electrónica Es Necesaria
Qué Lealtad NanoSolutions Ofrece
Lealtad Nanosolutions SEM y Servicios de TEM
Otros Servicios Analíticos Proporcionados por la Lealtad Nanosolutions
Sobre la Lealtad NanoSolutions

Antecedentes

El mercado y las tecnologías del semiconductor se están convirtiendo rápidamente, y varios progresos importantes han ocurrido hasta ahora en el área de la electrónica, de los ordenadores, de los dispositivos ópticos tales como laseres, de los diodos electroluminosos, y de los paneles solares. Después de la ley del Moore, el chip de ordenador se ha desarrollado de un circuito integrado simple a un microprocesador con millones de transistores. La demanda para los productos de semiconductor de un rendimiento cada vez más alto ha estimulado la industria para responder produciendo los dispositivos con el conjunto de circuitos cada vez más complejo, más transistores en menos espacio.

Retos para la Industria del Semiconductor

Como consecuencia, la fabricación industrial de semiconductores ha llegado a ser extremadamente compleja, implicando los materiales de gran pureza, el equipo sofisticado, y centenares de pasos de progresión. La industria del semiconductor se enfrenta con una tarea de enormes proporciones de manejar y de co-integrar una confluencia sin precedente de aproximaciones innovadoras. La introducción de estas aproximaciones innovadoras y los nuevos materiales plantean el nuevo conjunto de retos simultáneos, múltiples para el revelado de proceso de unidad y para la integración de proceso.

Nanotecnología de la Reunión de los Semiconductores

Además, la industria del semiconductor intenta cada vez más trabajar en la escala del nanómetro, y el tramitación avanzado del semiconductor está ocurriendo ya bien debajo de 100nm, el umbral para la nanotecnología. Pues la talla y las propiedades de los dispositivos de semiconductor son que encoge, ha llegado a ser increíblemente compleja para sondar hacia abajo al nivel del dispositivo para el análisis del incidente y la otra prueba. A su vez, hay demanda grande para el análisis instrumental de medición avanzado que puede trabajar en un geometrics más pequeño para los mejores propósitos del control de calidad.

Análisis de los Materiales del Semiconductor

Los materiales del Semiconductor existen en muchos diversos formularios estructurales y por lo tanto requieren el rango grande de las técnicas experimentales para su análisis.

Microscopia Electrónica

Específicamente, las técnicas de la Microscopia Electrónica Se utilizan para analizar las características de las características nanas y micras del dispositivo. La altos imagen y análisis de escala de la resolución espacial proporcionado por microscopia electrónica está determinado bien adaptados para resolver los problemas de los materiales encontrados durante la investigación y desarrollo, ingeniería de producción, prueba de la confiabilidad para el análisis del incidente en industrias del semiconductor.

Básicamente hay dos tipos de técnicas de la microscopia electrónica que se utilicen en la investigación de los materiales:

  • Microscopia Electrónica De la Exploración (SEM) y
  • Microscopia Electrónica de Transmisión (TEM, VÁSTAGO, ANGUILAS)

Áreas en Las Cuales la Microscopia Electrónica Es Necesaria

El análisis de la Microscopia Electrónica se requiere en las áreas siguientes:

  • Caracterización y análisis Superficiales de la superficie
  • Fenómenos del Incremento de una deposición material en el silicio,
  • Determinación del Micrófono/de la nano-estructura de semiconductores,
  • estudios de la Inter-Difusión en el silicio después de la deposición de la capa de conducto,
  • La detección del Defecto en las capas que forman encima del semiconductor saltara
  • Esfuerzo y Esfuércese el análisis entre las dos capas en semiconductores
  • Estudios y análisis del Incidente en dispositivo de semiconductor
  • Substancia química Superficial y correspondencia elemental, incluyendo impurezas
  • Detección Fina del espesor del film

Qué Lealtad NanoSolutions Ofrece

Mientras Que las compañías del semiconductor concentran en sus capacidades de la producción y proceso de fabricación como su ventaja competitiva dominante, la prueba de NanoSolutions de la Lealtad abastece ofertas un rango completo de los servicios analíticos de la prueba que pueden ayudar a clientes a analizar el revelado del primero tiempo a las evaluaciones de producto final. Los expertos de NanoSolutions de la Lealtad trabajan con industria para mejorar la medición de las diversas propiedades del semiconductor tales como el espesor y la alineación de las capas del circuito, y la composición química del trazo de las regiones específicas del dispositivo.

Lealtad Nanosolutions SEM y Servicios de TEM

La Lealtad tiene capacidad de proporcionar al análisis de SEM y de TEM. Aparte de las imágenes básicas de la microscopia ofrecemos un parte que ayude entienda al investigador en las características del material que es probado. También ofrecemos ayuda adicional con el análisis avanzado del material para evaluar el uso de este material en producto final. Podemos también ofrecer la consulta adicional basada en sus necesidades del proyecto.

Otros Servicios Analíticos Proporcionados por la Lealtad Nanosolutions

La Lealtad NanoSolutions proporciona a un rango de los servicios para ésos que desean desarrollar nano-productos en aplicaciones del Semiconductor. Éstos incluyen:

  • AFM - Microscopia Forzada Atómica que utiliza la Caracterización Superficial de películas finas, identificación y composición Elemental, caracterización Litográfica de los modelos, y los modelos de Nanofabricated, proyección de imagen superficial de los nanomaterials
  • SEM - Microscopia Electrónica De la Exploración que utiliza 2.o, caracterización 3D de la altura y de las dimensiones laterales de nano-objetos, medición del Espesor de capas finas y películas
  • TEM - Microscopia Electrónica De Transmisión que utiliza talla de Partícula y análisis de la dimensión de una variable, la distribución dimensional de Partícula, y la Determinación de fases cristalográficas

Sobre la Lealtad NanoSolutions

La Lealtad NanoSolutions proporciona los servicios Analíticos de la Prueba y de Asesoramiento para las compañías de emerger y Micra los productos basados tecnología Nana. Nuestros recursos ayudan A Comenzar Suben, las entidades Comerciales y Industriales De Tamano Medio y Grandes así como las Organizaciones del Gobierno en Norteamérica con las soluciones Analíticas de la Prueba. La Lealtad NanoSolutions también utiliza un espectro amplio de los programas de investigación y de la fabricación de contrato basados Nanotecnología para las organizaciones de la industria privada y del gobierno.

Fuente: Lealtad Nanosolutions

Para más información sobre esta fuente, visite por favor la Lealtad Nanosolutions

Date Added: May 13, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 07:20

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