半導体工業のための分析的なテストサービス

目録

背景
半導体工業のための挑戦
半導体の大会のナノテクノロジー
半導体材料の分析
電子顕微鏡検査
電子顕微鏡検査が必要である領域
どんな忠誠 NanoSolutions を提供するか
忠誠 Nanosolutions SEM および TEM サービス
忠誠 Nanosolutions によって提供される他の分析的なサービス
忠誠 NanoSolutions について

背景

半導体の市場および技術は急速に成長して、今のところ複数の重要な開発はレーザーのような電子工学、コンピュータ、光学装置、発光ダイオードおよび太陽電池パネルの領域で起こってしまいました。 ムーアの法律の後で、コンピュータ・チップは簡単な集積回路から何百万のトランジスターのマイクロプロセッサに展開しました。 ますます高性能の半導体製品のための要求はますます複雑化した回路部品が付いている装置、より少ないスペースのより多くのトランジスターの作成によって答えるように企業を刺激しました。

半導体工業のための挑戦

その結果、半導体の産業製造は非常に複雑になりま、ステップをもの高純度材料、精巧な装置および何百含みます。 半導体工業は革新的なアプローチの前例のない合流を管理することおよび共同統合することの非常に困難な課題と直面されます。 これらの革新的なアプローチの導入および新しい材料は単位プロセス開発とプロセス統合のための並行、多種多様な挑戦の新しいセットを提起します。

半導体の大会のナノテクノロジー

さらに、半導体工業はナノメーターのスケールで働くことをますます試み高度の半導体の処理は 100nm のナノテクノロジーのためのしきい値よりずっと低く既に起こっています。 半導体デバイスのサイズそして特性が憶病であるので、障害の分析および他のテストのための装置レベルに厳密に調べるために非常に複雑になりました。 次に、よりよい品質管理の為により小さい geometrics で働くことができる高度の測定の計装分析のための大きい要求があります。

半導体材料の分析

従って半導体材料は多くの異なった構造形式にあり、分析のための実験技術の大きい範囲を必要とします。

電子顕微鏡検査

具体的には、電子顕微鏡検査の技術が nano 及びマイクロ装置機能の特性を分析するのに使用されています。 電子顕微鏡検査によって提供される高い画像および空間分解能の尺度分析は研究開発、生産工学、半導体の企業の障害の分析のための信頼性のテストの間に見つけられる材料問題を解決するために特にうってつけです。

基本的に材料の研究で使用される 2 つのタイプの電子顕微鏡検査の技術があります:

  • スキャンの電子顕微鏡検査 (SEM)
  • 透過型電子顕微鏡 (TEM の茎、ウナギ)

電子顕微鏡検査が必要である領域

電子顕微鏡検査の分析は次の領域に必要となります:

  • 表面の性格描写および表面の分析
  • ケイ素の物質的な沈殿の成長現象、
  • 半導体のマイクロ/nano 構造の決定、
  • 行なう層の沈殿の後のケイ素の相互拡散の調査、
  • 半導体の上に形作る層の欠陥の検出は欠けます
  • 半導体の 2 つの層間の分析に重点を置き、こして下さい
  • 半導体デバイスの障害の調査そして分析
  • 不純物を含んで表面の化学薬品そして元素マップ、
  • 薄膜の厚さの検出

どんな忠誠 NanoSolutions を提供するか

半導体の会社が彼らの主比較優位として彼らの生産の機能および製造工程に集中する間、忠誠の NanoSolutions のテストは提供を顧客が最終製品の評価に初期の開発を分析するのを助けることができる分析的なテストサービスの広範囲の範囲整備します。 忠誠の NanoSolutions の専門家は企業回路の層の厚さそしてアラインメントのようなさまざまな半導体の特性の測定を改善するためにおよび特定の装置領域のトレース化学成分を使用します。

忠誠 Nanosolutions SEM および TEM サービス

忠誠に SEM および TEM の分析を提供する機能があります。 基本的な顕微鏡検査の画像から離れて私達は言うことがわかるテストされる材料の特性の研究者の助けるレポートを提供します。 私達はまた最終製品のこの材料の使用を評価するために材料の高度の分析の追加ヘルプを提供します。 私達はまた彼らのプロジェクトの必要性に基づいて追加相談を提供してもいいです。

忠誠 Nanosolutions によって提供される他の分析的なサービス

忠誠 NanoSolutions は半導体のアプリケーションの nano 製品を開発したいそれらにサービス提供の範囲を提供します。 これらは下記のものを含んでいます:

  • AFM - 薄膜の表面の性格描写を、元素識別および構成、石版パターン性格描写および Nanofabricated パターンサポートする原子強制顕微鏡検査、 nanomaterials の表面イメージ投射
  • SEM - 第 2 をサポートするスキャンの電子顕微鏡検査、 nano 目的の高さそして側面次元の 3D 性格描写、薄いコーティングの厚さの測定およびフィルム
  • TEM - 粒度および形の分析、結晶学段階の粒度分布および決定サポートする透過型電子顕微鏡

忠誠 NanoSolutions について

忠誠 NanoSolutions は Nano およびマイクロ出現を会社に分析的なテスト及び顧問サービスに技術によって基づく製品与えます。 私達の機能は活動化します、分析的なテストの解決が付いている北アメリカ全体の中型及び大きい商業及び産業エンティティ、また政府の組織開始を助けます。 忠誠 NanoSolutions はまた私用企業および政府の組織のためのナノテクノロジーによって基づく研究計画そして契約製造業の広いスペクトルをサポートします。

ソース: 忠誠 Nanosolutions

このソースのより多くの情報のために、忠誠 Nanosolutions を訪問して下さい

Date Added: May 13, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 07:02

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