半导体行业的分析测试服务

目录

背景
半导体行业的挑战
半导体集会纳米技术
对半导体材料的分析
电子显微镜术
电子显微镜术是需要的区
什么忠诚 NanoSolutions 提供
忠诚 Nanosolutions SEM 和 TEM 服务
忠诚提供的其他分析服务 Nanosolutions
关于忠诚 NanoSolutions

背景

半导体市场和技术迅速地开发,到目前为止,并且几重大的发展在电子、计算机、光学设备例如激光,发光二极管和太阳电池板区进行了。 在穆尔的法律之后,计算机芯片从一个简单的集成电路演变到有百万的一个微处理器晶体管。 对越来越高性能半导体产品的需求刺激这个行业通过导致有逐渐复杂化的电路的设备回应,在较少空间的更多晶体管。

半导体行业的挑战

结果,行业生产半导体变得非常复杂,介入高纯度材料、精密设备和数百步骤。 半导体行业与管理和共同集成创新途径史无前例的合流一项艰巨的任务面对。 这些创新途径的简介和新的材料形成新的套并行,多种挑战单元操作发展的和处理综合化的。

半导体集会纳米技术

另外,半导体行业越来越设法得运作在毫微米缩放比例,并且先进半导体处理已经进行低于 100nm,纳米技术的阈值。 因为半导体设备的范围和属性是收缩的,它变得难以置信地复杂探查下来到故障分析和其他测试的设备级别。 反过来,有对可能运作在更好的质量管理目的更小的 geometrics 的先进的评定的仪器分析的大需求。

对半导体材料的分析

半导体材料存在以许多不同的结构上的形式并且要求实验技术的大范围他们的分析的。

电子显微镜术

特别地,电子显微镜术技术用于分析纳诺 & 微设备功能的特性。 电子显微镜术提供的高图象和空间分辨率缩放比例分析为解决在研究与开发遇到的材料问题是特别非常合适的,制造工程,故障分析的可靠性测试期间在半导体行业。

基本上有用于材料研究的电子显微镜术技术的二种类型:

  • 扫描电子显微镜术 (SEM)和
  • 透射电镜术 (TEM,词根,鳗鱼)

电子显微镜术是需要的区

电子显微镜术分析在下列区需要:

  • 表面描述特性和表面分析
  • 物质证言的增长现象在硅的,
  • 半导体的微小/纳诺结构确定,
  • 关于硅的相互扩散研究在执行的层的证言以后,
  • 在形成在半导体顶部的层的缺陷检测切削
  • 强调并且劳损在二块层之间的分析在半导体
  • 故障研究和分析在半导体设备
  • 表面化学制品和基本映射,包括杂质
  • 薄膜厚度检测

什么忠诚 NanoSolutions 提供

当半导体公司集中他们的生产功能和制造过程作为他们的关键竞争优势时,忠诚 NanoSolutions 测试为聘用服务可能帮助客户分析早期发展到最终产品评估的各种各样的分析测试服务。 忠诚 NanoSolutions 专家与行业改进多种半导体属性的评定例如电路层的厚度和对准线和特定设备地区的跟踪化学成分一起使用。

忠诚 Nanosolutions SEM 和 TEM 服务

忠诚有提供 SEM 和 TEM 分析的功能。 除基本的显微学图象外我们提供帮助明白被测试的材料的特性的研究员的一个报表。 我们也提供与对材料的先进的分析的另外的帮助评估使用在最终产品的此材料。 我们可以也提供在他们的项目需要基础上的另外咨询

忠诚提供的其他分析服务 Nanosolutions

忠诚 NanoSolutions 为希望的那些提供服务范围开发在半导体应用的纳诺产品。 这些包括:

  • AFM - 支持薄膜表面描述特性、基本确定和构成、平版印刷的模式描述特性和 Nanofabricated 模式的基本牵强的显微学, nanomaterials 表面想象
  • SEM - 扫描支持第 2 的高度和侧向维数的电子显微镜术, 3D 描述特性纳诺对象,稀薄的涂层的厚度评定和影片
  • TEM - 支持颗粒大小和形状分析,晶体阶段的粒度分布和确定的透射电镜术

关于忠诚 NanoSolutions

忠诚 NanoSolutions 为公司提供分析测试 & 咨询服务以涌现纳诺和微技术基于产品。 我们的设施帮助开始上升,中型 & 大商业 & 行业实体以及政府组织遍及北美用分析测试解决方法。 忠诚 NanoSolutions 也支持纳米技术基于研究方案和合同生产一个清楚的光谱私人工业和政府组织的。

来源: 忠诚 Nanosolutions

关于此来源的更多信息,请参观忠诚 Nanosolutions

Date Added: May 13, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 06:44

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