半導體行業的分析測試服務

目錄

背景
半導體行業的挑戰
半導體集會納米技術
對半導體材料的分析
電子顯微鏡術
電子顯微鏡術是需要的區
什麼忠誠 NanoSolutions 提供
忠誠 Nanosolutions SEM 和 TEM 服務
忠誠提供的其他分析服務 Nanosolutions
關於忠誠 NanoSolutions

背景

半導體市場和技術迅速地開發,到目前為止,并且幾重大的發展在電子、計算機、光學設備例如激光,發光二極管和太陽電池板區進行了。 在穆爾的法律之後,計算機芯片從一個簡單的集成電路演變到有百萬的一個微處理器晶體管。 對越來越高性能半導體產品的需求刺激這個行業通過導致有逐漸複雜化的電路的設備回應,在較少空間的更多晶體管。

半導體行業的挑戰

結果,行業生產半導體變得非常複雜,介入高純度材料、精密設備和數百步驟。 半導體行業與管理和共同集成創新途徑史無前例的合流一項艱鉅的任務面對。 這些創新途徑的簡介和新的材料形成新的套並行,多種挑戰單元操作發展的和處理綜合化的。

半導體集會納米技術

另外,半導體行業越來越設法得運作在毫微米縮放比例,并且先進半導體處理已經進行低於 100nm,納米技術的閾值。 因為半導體設備的範圍和屬性是收縮的,它變得難以置信地複雜探查下來到故障分析和其他測試的設備級別。 反過來,有對可能運作在更好的質量管理目的更小的 geometrics 的先進的評定的儀器分析的大需求。

對半導體材料的分析

半導體材料存在以許多不同的結構上的形式並且要求實驗技術的大範圍他們的分析的。

電子顯微鏡術

特別地,電子顯微鏡術技術用於分析納諾 & 微設備功能的特性。 電子顯微鏡術提供的高圖像和空間分辨率縮放比例分析為解決在研究與開發遇到的材料問題是特別非常合適的,製造工程,故障分析的可靠性測試期間在半導體行業。

基本上有用於材料研究的電子顯微鏡術技術的二種類型:

  • 掃描電子顯微鏡術 (SEM)和
  • 透射電鏡術 (TEM,詞根,鰻魚)

電子顯微鏡術是需要的區

電子顯微鏡術分析在下列區需要:

  • 表面描述特性和表面分析
  • 物質證言的增長現象在硅的,
  • 半導體的微小/納諾結構確定,
  • 關於硅的相互擴散研究在執行的層的證言以後,
  • 在形成在半導體頂部的層的缺陷檢測切削
  • 強調并且勞損在二塊層之間的分析在半導體
  • 故障研究和分析在半導體設備
  • 表面化學製品和基本映射,包括雜質
  • 薄膜厚度檢測

什麼忠誠 NanoSolutions 提供

當半導體公司集中他們的生產功能和製造過程作為他們的關鍵競爭優勢時,忠誠 NanoSolutions 測試為聘用服務可能幫助客戶分析早期發展到最終產品評估的各種各樣的分析測試服務。 忠誠 NanoSolutions 專家與行業改進多種半導體屬性的評定例如電路層的厚度和對準線和特定設備地區的跟蹤化學成分一起使用。

忠誠 Nanosolutions SEM 和 TEM 服務

忠誠有提供 SEM 和 TEM 分析的功能。 除基本的顯微學圖像外我們提供幫助明白被測試的材料的特性的研究員的一個報表。 我們也提供與對材料的先進的分析的另外的幫助評估使用在最終產品的此材料。 我們可以也提供在他們的項目需要基礎上的另外咨詢

忠誠提供的其他分析服務 Nanosolutions

忠誠 NanoSolutions 為希望的那些提供服務範圍開發在半導體應用的納諾產品。 這些包括:

  • AFM - 支持薄膜表面描述特性、基本確定和構成、平版印刷的模式描述特性和 Nanofabricated 模式的基本牽強的顯微學, nanomaterials 表面想像
  • SEM - 掃描支持第 2 的高度和側向維數的電子顯微鏡術, 3D 描述特性納諾對象,稀薄的塗層的厚度評定和影片
  • TEM - 支持顆粒大小和形狀分析,晶體階段的粒度分佈和確定的透射電鏡術

關於忠誠 NanoSolutions

忠誠 NanoSolutions 為公司提供分析測試 & 咨詢服務以湧現納諾和微技術基於產品。 我們的設施幫助開始上升,中型 & 大商業 & 行業實體以及政府組織遍及北美用分析測試解決方法。 忠誠 NanoSolutions 也支持納米技術基於研究方案和合同生產一個清楚的光譜私人工業和政府組織的。

來源: 忠誠 Nanosolutions

關於此來源的更多信息,请請參觀忠誠 Nanosolutions

Date Added: May 13, 2011 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 06:47

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