Brewster 각 현미경 검사법의 이론

AZoNano의

소개

표면에서 가벼운 반영은 우리의 매일 경험의 일부분입니다. 경이로운 광학 속성은 영 반영이 있의 가능성입니다. 아무 반영도 p 극화한 빛을 가진 부각의 유일한 각의 밑에 분명히된 청결하고 완벽한 공용영역에서 일어나지 않다는 것을 주의되어야 합니다. 이 현상은 연루되는 광학적인 매체를 Brewster의 각을 제공하는 Brewster의 법률에 의해 설명됩니다. 공용영역에 광학적 성질의 어떤 수정든지 반영으로 이끌어 낼 것입니다. 이 사실은 Brewster 각 현미경 검사법의 기초, 근해/공기 공용영역 또는 그밖 투명한 비 흡착시키는 절연성 기질의 표면에 nanofilms의 연구 결과를 위한 최근 기술을 형성합니다.

단순히 공용영역 Brewster에 단층이 있어서 법률은 만족하지 않고 표면의 커버한 부분은 강렬의 아주 저수준을 가진 빛을 반영합니다. 조명의 강렬을 증가시켜서, 표면의 커버한, 청결한 부분 사이 대조는 상당히 증가될 수 있습니다. 눈 현미경 및 CCD 검출기를 사용해서, 층의 옆 형태학의 경조 심상은 취할 수 있습니다. 전형적인 적용 분야는 콜로이드, 생명 공학, 지상 화학 및 물자 연구입니다.

Brewster의 법률

광선이 다양한 굴절률이 있을 2개의 매체 사이에서 경계를 통과할 때, 일반적으로 소량의 빛은 반영됩니다. Brewster의 각 (q)는_B 단 하나 특정한 대립 상태에 빛이 반영될 수 없는 부각의 특정 각입니다. 반영될 수 없는 국가는 입사면과 평행합니다. 이 분극을 가진 빛은 p 극화해 흔히 말합니다.

모든 p 극화되는 빛이 굴절되고는 전달되는 때, 이 각으로 공용영역에서 반영된 어떤 빛든지 극화된 s -이어야 합니다. 격판덮개의 더미 또는 Brewster의 각의 밑에 광선에서 둔 유리 접시는 편광자로 이렇게 사용될 수 있습니다.

매체 (로 유리₂ 를 위해 대기에서 n" 1.5) (n₁ " 1) 의 가시 광선을 위한 Brewster의 각은 공기 근해 공용영역 (n" 1.33)를 위해 정상에 56°₂ 의 주위에 53°의 주위에 동안 그것 범위 이. 주어진 매체를 위한 R.i.가 이기 때문에 가벼운 파장 Brewster의 각의 기능은 또한 파장으로 변화할 것입니다.

Brewster 각 현미경 검사법

Brewster 각 현미경 검사법은 1991년에 소개되었습니다. 영 빛은 Brewster의 각 부각의 밑에 공기 근해 공용영역에서 p 극화되는 빛이 이용될 때 반영됩니다. 부각의 일정한 각으로, 단층은 Brewster의 각 상태를 변경하고 가벼운 반영을 관찰하는 근해 표면에 형성됩니다. 숫자 1은 Brewster 각 현미경 검사법을 사용하여 nanofilm로 커버된 표면을 위한 대조 장악의 원리를 설명합니다.

Brewster 각 현미경 검사법의 숫자 1. 원리: 경조를 가진 화상 진찰 매우 박막을 위한 Brewster ` s 법률 사용.

Brewster 각 현미경 검사법은 장거리 오리엔테이션 명령이 있는 기초공사를 위한 우수한 구상 방법입니다. 다른 분자 오리엔테이션의 subdomains 사이 대조를 장악하기 위하여는, 해석기는 반영된 光速 경로에서 둡니다.

기계 사용

상업적인 Brewster 각 현미경의 기점은 숫자 2.에서 보인 그의 졸업증서 논제에 있는 더크 Hönig가 발육된 계기이었습니다.

숫자 2. 시제품, 졸업증서 논제, 더크 Hönig.

파리에 있는 LB6에 첫번째 프리젠테이션부터, Brewster 각 현미경 검사법은 매우 박막의 수사를 위한 세계적인 표준 기술로 설치되었습니다. 숫자 4.에서 보이는 것처럼 BAM2의 다른 몇몇 버전에 선행된 숫자 3에서 보이는 것처럼 Nanofilm의 BAM1는 첫번째 상업 계기 유효했습니다.