Análise de Filmes Magnéticos Finos Usando a Espectrometria Em Massa Neutra Engasgada (SNMS)

Por AZoNano

Índice

Introdução
SIMS e SNMS
Conclusão
Sobre Hiden Analítico

Introdução

A Espectrometria Em Massa Neutra Engasgada é perfeita para analisar os filmes finos do metal onde a condição da composição, da espessura e da relação pode ser determinada. O exemplo apresentado aqui, mostras um a pilha do filme magnético que compreende o Cr, Ni, Cu e Fe. Dos métodos diferentes do armazenamento de dados, os disco duros magnéticos ainda oferecem meios altamente econômicos para o acesso rápido high-density. O movimento contínuo para as cabeças de leitura/gravação cada vez mais compactas e umas trilhas de dados mais fechadas tem conduzir a uma revelação considerável de materiais e de estruturas magnéticos para esta aplicação de exigência. A Análise das estruturas de camada metálicas usadas no armazenamento de dados magnético é vital para a revelação e a gestão de qualidade com espectrometria em massa de íon secundária (SIMS) e a informação de oferecimento neutra engasgada (SNMS) da espectrometria em massa na composição menor e principal do elemento respectivamente.

SIMS e SNMS

SIMS e SNMS usam um feixe de íon energético, quimicamente puro concentrado, mono de keV tipicamente 1-10 a engasgar corrmoem a superfície sob o estudo. Uma fracção pequena do material engasgado obtem ionizado devido ao processo próprio engasgar e em SIMS, é estes íons que oferecem a informação delicada para que a técnica é sabida. Ser técnica da espectrometria em massa, todos os elementos e isótopos pode ser detectado, e em circunstâncias favoráveis o limite de detecção pode estar na baixa região do ppb. Contudo, porque o mecanismo da ionização para SIMS ocorre na superfície da amostra, é muito dependente da química local e a fracção ionizada pode variar por diversos ordens de grandeza. Isto faz o ideal de SIMS para a análise de traço nos materiais da matriz conhecida mas a quantificação nos materiais da matriz em mudança pode ser complicada. SNMS supera da “o efeito matriz” separando os eventos engasgar e de ionização.

Mesmo no íon alto render a situações a fracção dos íons excede raramente 1% do material engasgado, assim que o fluxo neutro é mais representativo da composição da amostra. A Ionização para SNMS ocorre em uma pilha do bombardeio do elétron na parte dianteira do analisador, assim que significa que a probabilidade da ionização é uma constante e não depende em cima da química da amostra. Para determinar SIMS é importante que o material de referência seja tão similar ao desconhecido como possível e deva certamente ser do mesmo material de matriz. Para SNMS, esta harmonização de matriz de materiais de referência é desnecessária, como os factores da calibração não mudam com matriz conseqüentemente, os factores exigidos da sensibilidade pode ser determinada do metal facilmente disponível e das amostras cerâmicas de composição publicada.

Mais, SNMS é ideal para a análise dos isoladores, porque as espécies neutras são não afectadas pela amostra que cobra, contudo, a compensação da carga é ainda aconselhável a fim manter condições preliminares consistentes do feixe.

As partículas secundárias ionizadas são estudadas e detectadas no espectrómetro em massa. Na análise muito baixa das correntes do feixe de íon é limitado ao superior poucos monolayers, excelentes para a detecção da contaminação de superfície. Porque a dose do feixe de íon é aumentada e engasgar se torna mais agressivo, umas camadas mais profundas estão expor subseqüentemente e concentração enquanto a função da profundidade pode ser identificada. Usando um feixe de íon focalizado, SIMS e SNMS tornam-se espacial de resolução e as imagens elementares podem ser gravadas.

Conclusões

A análise mostrada aqui foi feita usando a estação de trabalho de Hiden SIMS, um instrumento completo e altamente flexível do quadrupole SIMS/SNMS equipados com a arma de íon do gás IG20 e o analisador da MÁXIMA SIMS/SNMS.

Sobre Hiden Analítico

Hiden Analítico é um fabricante principal de espectrómetros em massa do quadrupole para a pesquisa e para a engenharia de processo. Seus produtos Nossos produtos endereçam uma escala diversa de incluir das aplicações:

  • Análise de gás da Precisão
  • Diagnósticos de Plasma pela medida directa de energias dos íons e do íon do plasma
  • Pontas de prova de SIMS para a ciência da superfície de UHV
  • Quantificação do desempenho da Catálise
  • estudos Thermo-Gravimétricos

Estes instrumentos analíticos são projectados trabalhar sobre uma amplitude da pressão que estende de 30 processos da barra para baixo a UHV/XHV.

Esta informação foi originária, revista e adaptada dos materiais fornecidos por Hiden Analítico.

Para obter mais informações sobre desta fonte, visite por favor Hiden Analítico.

Date Added: Jan 21, 2012 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 14. June 2013 09:44

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