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简介 同时共焦 AFM 想象和 TERS 综合化程序包解决方法 并行想象 常规共焦喇曼映射 映射与 Z 控制的喇曼 集成 Raman/AFM 的示例 Nanoindentation 关联与有形资产 MEMs 设备局部应力 在液体的断断续续的联系模式 关于 Nanonics 想象 简介
Nanoscale 想象是一个快速展开的域。 现今有几个技术可用为范例描述特性，但是每一个被瞄准提取特定信息。 因此是理想的有几个这些之中分析工具所有集成到达到这个标本的充分的描述特性的同一个测量系统。
同时共焦 AFM 想象和 TERS
Nanonics 想象作早期工作在 AFM 喇曼/技巧的域提高与 (TERS) Multiview TM 串联的喇曼分光学。 其特点自由光纤轴是否允许与所有喇曼系统的无缝集成，直立的东西或倒置。 图 1 显示在 HORIBA Jobin Yvon 喇曼分光仪 () 和 Multiview 挂接的 Multiview 4000TM 二探测顶头 1000TM 在 Renishaw 喇曼分光仪朝向挂接 (正确)。
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图 1. Multiview 4000TM 二探查题头，挂接在 HORIBA Jobin Yvon 喇曼分光仪 (离开) 和 Multiview 1000TM 题头，挂接在 Renishaw 喇曼分光仪 (正确)。
综合化程序包为各种各样的喇曼是可用的制造包括 Renishaw PLC 和 HORIBA Jobin Yvon。 这些科技目前进步水平综合化在高分辨率喇曼分光学方面指示一个新的时代的初期。 这样综合化程序包允许 AFM 的完全隔离从喇曼和激光源的并且提供最终在 AFM 性能，并且多种范例的光学/共焦的 Raman/TERS 处理量例如碳 nanotube， graphene 剥落，单层、生物表面等等。
综合化程序包解决方法
综合化程序包是可能连接到喇曼显微镜或直接地到喇曼分光仪的一个光通信程序包。 这个好处是 AFM 独自地坐与从喇曼的激光、分光仪或者 CCD 的振动完全地查出的显微镜。 这允许 AFM 和喇曼对工作在最佳的操作条件下。
综合化程序包的三种配置是可用的：
- 挺直显微镜
- 倒置显微镜
- 双重显微镜 (直立的东西和一个倒置显微镜的组合)。
Nanonics Multiview TM 串联被设计显然地光学上集成 (图 2)。 同一个题头可能与直立的东西或一个倒置显微镜和与存在 backscattered 或传输运算的一个双重显微镜系统一起使用。
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图 2. 一个双重显微镜系统的综合化程序包模式与高效的光通信的与外部设备例如喇曼分光仪和喇曼显微镜 ()。 Multiview 4000TM SPM 系统在一个双重显微镜和综合化程序包的隔振平台挂接 (正确)。 综合化程序包包含音响保护的封入物。
并行想象
这个联合的系统，记录与喇曼，各种各样的浏览的探测想象形式平行是可能的。 例如，而微型电路的 Si 喇曼峰顶被监控检测在硅的重点，电路的微型地势可能由 AFM 同时评定、以及其 NSOM 反射性或者其电子属性，例如掺质浓度 (图 3)。
另外， Nanonics 为直接和同时比较和分析提供立即显示所有这些图象的一个软件。
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图 3. 并行想象硅半导体。 9x7 μm2 AFM 图象 () 和同一个区域的喇曼强度在 520nm/cm (正确) 的。
常规共焦喇曼映射
当学习非平稳的表面时，有一个严重的缺点对喇曼分光学。 与所有基于透镜的显微学技术，喇曼遭受外重点光的问题。
当范例常规浏览在喇曼显微镜的照亮射线下，参差不齐的范例表面将浏览进出焦平面。 结果喇曼映射的解决方法由 unfocussed 射线的大区在这个范例的限制。
另外，点弥漫函数是显着更加清楚的有从外重点光的地方摊缴。 结果喇曼范围非平面的表面可以是非常令人误解的，并且倾向于误传通过使用喇曼，可以被获取的真的信息。
映射与 Z 控制的喇曼
通过使用 Z 反馈结构，出于重点光的问题可以解决。 到位此反馈，这个范例的表面在扫描中的焦平面可以被保留。 所有 Nanonics Multiview TM AFM 平台有一个完全地自由光纤轴。 这做他们理想的附加程序对所有喇曼系统提供 Z 控制必要为真高分辨率喇曼映射。
集成 Raman/AFM 的功率的示例
映射有和没有 Z 控制的喇曼之间的区别能在下面示例中明显地被看到。 这里金刚石振动模式在 1334 cm 的-1 表示 (图 4)。
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图 4。 对在上面的图象显示同一区映射有和没有 Z 控制 (顶层)。 Z 控制的好处由二之间的区别使明显。 在底层的图象是 AFM 地势拼贴画和同一个范例的喇曼强度在二个不同波长 (底层)。 注意在二个图象的强度上的区别： 明亮的地点在 1334 cm 的图象顶部-1 是缺少的这个图象在 1525 cm-1。
专门化的 AFM/Raman/TERS 功能 NanoImaging 和 NanoManipulation 碳 NanoMaterials 协议为各种各样的材料是可用的例如碳 nanotubes、 Graphene、金刚石等等。 其他喇曼系统没有 Z 位置满足的控制挑选这些区别的。
Nanoindentation 关联与有形资产
要说明 AFM 和喇曼分光学世界的组合，实际数据在以上提到的 Si 重点问题得到 (图 5)。
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图 5. (a) 14 x 14 μm2 AFM 一 nanoindentation 的高度图象在 Si 的， (b) 一条线路扫描通过 AFM 图象的区域被显示。
在 AFM 横断面的点是喇曼显微镜光谱收集的点。 由于 nanoindentation，硅被偏移了。 这个问题是这些地区是否对应于可以关联与 AFM 评定硅的不同的阶段。
喇曼仅微探针分光学可能提供此信息。 在地势被评定了的同时，喇曼光谱得到了。
MEMs 设备局部应力
喇曼分光学是评定硅张力的一个非常重要技术。 因为探测技巧的区 nanometric，在线 AFM 可能强加细致受控制和明确定义的张力给硅有超出 megapascals 的压。 NanoRaman 技术对超解决方法硅在浮式建筑物的重点评定是理想的例如梳子和叉子。
在线 AFM 允许被定义的强制强加给 MEMs 悬臂，当在线喇曼在硅振动频率中评定转移和硅张力在交叉时 (Figs. 6 和 7)。 其他 AFM 没有能力在这样组合上。
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在一个 MEMs 悬臂的图 6. AFM 轰烈的强制有同时评定硅振动频率的喇曼的和硅劳损在交叉。
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图 7. 作为局部应力地点功能的喇曼班次。
在液体的断断续续的联系模式
另外， Nanonics SPM/Raman 系统在断断续续的联系模式下可能运行甚而在液体。 因此，生物材料 NSOM/SPM 想象全世界在生理媒体的可能直接地现在关联与喇曼光谱。
关于 Nanonics 想象
Nanonics 想象是 AFM 和 NSOM 系统的首要的创新者在 SPM 市场上。 在 1997年因为其开始和在最近十年期间 Nanonics 介绍给反之支持对新的应用领域的追击科学在系统功能的 SPM 市场新概念。
Nanonics 从革命途径的摊缴范围对与悬臂 NSOM 的 NSOM 想象探查，对浏览 AFM 系统的双重技巧/范例的简介和从第一个 NSOM/AFM 低温系统的引进对第一， Raman/AFM、 Multiprobe AFM 和 SEM/AFM 系统。
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此信息是来源，复核和适应从 Nanonics 想象提供的材料。
关于此来源的更多信息，请参观 Nanonics 想象。