Utilisant le Microscope de Conductibilité d'Ion (ICM) aux Fibrilles de Collagène d'Image

Par AZoNano

Table des matières

Introduction
Préparation des Échantillons
Exemple
Au Sujet des Systèmes de Parc

Introduction

La microscopie de conductibilité d'Ion (ICM) est une technique considérable utilisée pour obtenir des images sans contact de la topographie de surface de cellules et aux cellules cultivées d'image dans des conditions liquides. Une modalité neuve de MISSILE AUX PERFORMANCES AMÉLIORÉES est présentée ici : le mode de lecture (ARS) d'élan-rétraction. Cette modalité est hautement puissante et active la représentation des échantillons ayant les pentes escarpées. Le cas du réseau dense de fibrille de collagène étudié par l'intermédiaire du MISSILE AUX PERFORMANCES AMÉLIORÉES est présenté afin de tester si le mode d'ARS convient pour des échantillons biologiques de représentation avec de grandes lacunes de hauteur.

Préparation des Échantillons

Des fibrilles de Collagène ont été dérivées du tendon d'arrière des rats de Wistar d'adulte et enregistrées dans saline physiologique avec 1 10 % tymol (2-isopropyl-5-methylphenol) au °C 4 pour un minimum de 1 jour. Une pièce de tendon a été soumise à l'étirage et du jour au lendemain séchée à l'air. L'échantillon a été alors immergé de nouveau dans saline physiologique. La représentation de MISSILE AUX PERFORMANCES AMÉLIORÉES a été exécutée dans le mode d'ARS utilisant le XE-Bio Système.

Exemple

Un exemple de la représentation de MISSILE AUX PERFORMANCES AMÉLIORÉES des réseaux de fibrille de collagène utilisant le mode d'ARS est affiché sur le schéma 1. La largeur des différentes fibrilles s'est échelonnée de 50 à 470 nanomètre. Selon le profil de partie, la largeur de fibrille de collagène indiquée par les flèches vertes sur le schéma 1 était 277 nanomètre et la différence de hauteur entre la fibrille et la surface en verre était 2606 nanomètre. Ce résultat prouve que certaines fibrilles sont suspendues au-dessus du substrat en verre pendant la lecture d'image de MISSILE AUX PERFORMANCES AMÉLIORÉES. Par Conséquent, le mode d'ARS du MISSILE AUX PERFORMANCES AMÉLIORÉES a l'avantage de réduire à un minimum la force de charge, qui est inévitable dans la microscopie atomique conventionnelle de force (AFM).

Le Schéma 1. réseaux Denses de fibrille de collagène imagés par le MISSILE AUX PERFORMANCES AMÉLIORÉES d'ARS/hopping (première Commission). L'analyse de profil (Commission inférieure) se rapporte à la ligne rouge indiquée dans l'image de MISSILE AUX PERFORMANCES AMÉLIORÉES.

Au Sujet des Systèmes de Parc

Les Systèmes de Parc est les principales solutions de nanotechnologie partner pour les problèmes les plus provocants des applications de recherches et d'industriel de nanoscale.

Les Systèmes de Parc fournit les solutions initiales et novatrices d'AFM pour la mesure de nanoscale la plus précise. En métrologie de nanoscale, avoir des données qui sont reproductibles, reproductible, et fiable est juste comme essentiel que réalisant la haute résolution. La plate-forme novatrice de métrologie de l'interférence-élimination (XE) déclenchée une ère neuve du nanometrology qui surmonte la non-linéarité et la non-orthogonalité associées avec les systèmes basés de piezotube conventionnel. La technologie novatrice d'AFM de Systèmes de Parc est une force du marché disruptive et elle augmente l'application du nanometrology au delà des limites de la technologie conventionnelle d'AFM.

Cette information a été originaire, révisée et adaptée des matériaux fournis par des Systèmes de Parc.

Pour plus d'informations sur cette source, visitez s'il vous plaît les Systèmes de Parc.

Date Added: Mar 13, 2012 | Updated: Sep 20, 2013

Last Update: 20. September 2013 06:23

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