Usando o Microscópio da Condutibilidade do Íon (ICM) às Fibrilas do Colagénio da Imagem

Por AZoNano

Índice

Introdução
Preparação da Amostra
Exemplo
Sobre Sistemas do Parque

Introdução

A microscopia da condutibilidade do Íon (ICM) é uma técnica extensivamente usada para obter imagens contacto-livres da topografia da superfície da pilha e às pilhas cultivadas da imagem sob circunstâncias líquidas. Uma modalidade nova do ICM é apresentada aqui: o modo de exploração (ARS) do aproximação-retraimanto. Esta modalidade é altamente poderosa e permite a imagem lactente das amostras que têm inclinações íngremes. O exemplo da rede densa da fibrila do colagénio estudada através do ICM é apresentado a fim testar se o modo do ARS é apropriado para amostras biológicas da imagem lactente com grandes diferenças da altura.

Preparação da Amostra

As fibrilas do Colagénio foram derivadas do tendão da cauda de ratos adultos de Wistar e armazenadas em salino fisiológico com os 1 10% tymol (2-isopropyl-5-methylphenol) no °C 4 para um mínimo de 1 dia. Uma parte do tendão foi sujeitada ao esticão e secada durante a noite. A amostra foi imergida então outra vez em salino fisiológico. A imagem lactente do ICM foi executada no modo do ARS usando o XE-Bio Sistema.

Exemplo

Um exemplo da imagem lactente do ICM das redes da fibrila do colagénio que usam o modo do ARS é mostrado em figura 1. A largura das fibrilas individuais variou de 50 a 470 nanômetro. Conforme o perfil da secção, a largura da fibrila do colagénio indicada pelas setas verdes em figura 1 era 277 nanômetro e a diferença da altura entre a fibrila e a superfície do vidro era 2606 nanômetro. Este resultado mostra que determinadas fibrilas estão suspendidas sobre a carcaça de vidro durante a exploração da imagem do ICM. Daqui, o modo do ARS de ICM tem o benefício de minimizar a força da carga, que é inevitável na microscopia atômica convencional da força (AFM).

Figura 1. redes Densas da fibrila do colagénio imaged pelo ICM de ARS/hopping (painel superior). A análise do perfil (painel inferior) refere a linha vermelha indicada na imagem do ICM.

Sobre Sistemas do Parque

Os Sistemas do Parque são as soluções principais da nanotecnologia partner para os problemas os mais desafiantes da pesquisa do nanoscale e de aplicações industriais.

Os Sistemas do Parque fornecem soluções originais e inovativas do AFM para a medida a mais exacta do nanoscale. Na metrologia do nanoscale, ter os dados que são repetíveis, reprodutível, e seguro é apenas tão crucial quanto conseguindo a alta resolução. A plataforma inovativa da metrologia da interferência-eliminação (XE) ushered em uma era nova do nanometrology que supera as não-linearidades e a não-ortogonalidade associadas com o piezotube convencional baseou sistemas. A tecnologia inovativa do AFM dos Sistemas do Parque é uma força disruptiva do mercado e expande a aplicação do nanometrology além dos limites de tecnologia convencional do AFM.

Esta informação foi originária, revista e adaptada dos materiais fornecidos por Sistemas do Parque.

Para obter mais informações sobre desta fonte, visite por favor Sistemas do Parque.

Date Added: Mar 13, 2012 | Updated: Sep 20, 2013

Last Update: 20. September 2013 06:27

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