Польза Высок-Ширины полосы частот AFM для Обзора, Скрининга и Динамики

AZoNano

Содержание

Введение
Обзор
Экранировать
Динамика
Будущие Применения Быстрого Воображения AFM
О Bruker

Введение

3 ключевых зоны применения которая извлекали пользу Микроскоп Усилия высокой ширины полосы частот Атомный (AFM) с идентичными качеством данных, производственными затратами, управлением усилия и удобством пользы как типичный AFM. Эти можно расклассифицировать под скринингом, обзором и динамикой. Для каждой из этих категорий, Размер FastScan был прикладной.

Обзор

Обзор материала типично предпринят для того чтобы понять репрезентивные словотолкования несродного, неизвестного образца. Это очень типичная ситуация при использовании AFM (или любого метода микроскопии) на новом образце. Специально для осложненных (образцов например, биоматериала), большая часть времени воображения часто потрачена смотря, что достаточную поверхность образца поняла что важно, вернее чем захватывающ окончательные изображения которые представляют образец. Покрывать более большую зону образца, с достаточной деталью и в пределах приемлемого количества времени включает более лучший, более балансировать взгляд частей и их соответственно роли.

Прикладывать более высокую ширину полосы частот AFM к этой цели можно сделать в следующих путях:

  • На грубом образце, больше мест могут быть включены и imaged в более коротком количестве времени.
  • Возможность верхнего слоя изображения MIRO ПО NanoScope можно использовать для того чтобы держать след всех разверток не познее один контекст, и по отношению к изображению обзора оптически.
  • На справедливо плоском образце, другой путь произвести съемку образца захватить очень большую зону развертки с очень высоким разрешением пиксела. Данные можно после этого просигналить в и проанализированные (даже без использования более дополнительного времени инструмента) и репрезентивные области можно увеличивать и опубликовать.
  • Главное преимущество этого метода что возможно вынсить решение о самый лучший маштаб и обрамлять после принимать все данные. Данные показанные в диаграмме 1 состоят из одного изображения 16 megapixel ряда развертки 20 микронов на фильме полимера PTFE, приобретенного в 8 минутах, с данными сигналят различных интересных словотолкований, так же, как данных по участка для 2 из их.

Диаграмма 1. 20mm, изображение 16MP фильма полимера PTFE (левого), приобретенное в 8 минутах. Право: Множественные данные сигналят показывающ данные по детали и участка. Производя Съемку образец середин исследовать и понять его репрезентивные словотолкования, и документировать их в изображениях качества издания. На достаточно плоских образцах, один метод обзора принять большой, развертка высок-разрешения которую можно исследовать offline для репрезентивных словотолкований, которые можно после этого увеличивать и опубликовать.

Экранировать

Легко понять космос возможных явлений в применениях скрининга, тем ме менее понять зависимость параметра входящего потока или параметра процесса и словотолкования или свойства nanoscale необходимо понять и квантифицировать. Важно к изображению несколько мест на множественных образцах и эффектно проанализировать и квантифицировать свойство или словотолкование. Скорость Воображения необходима как также нагрузка multi-образца и автоматизация, надежная деятельность без интервенции анализа изображения пользователя, управления данными и серии поровну важна.

На Диаграмму 2 показано пример скрининга AFM от фармацевтической промышленности. Здесь активный фармацевтический ингридиент (API) совмещен (сформулировано) с (бездействующим) excipient для того чтобы сформировать аморфическое твердое тело, с целью увеличивать растворимость API после заглатывания. На комнатной температуре, аморфическое (, котор замерли) образование твердые но в противном случае оно фазировало бы отдельно. Для того чтобы наблюдать возможным разъединением участка с навальными методами, относительно макроскопические разъединение (~100nm) и рекристаллизация API должны сперва произойти. Размер FastScan AFM может получить индикаторы нестабильности на гораздо малее маштабе размера, очень более раньше.

Диаграмма 2. Экран 12 аморфических выбранных образования снадобья (сломанного фильма, разверток 3μm, 5 мест в выбранный). Анализ Серии показывает материальную специфическую шершавость с плотными адвокатскими сословиями ошибки; excipients с нагрузкой API ровне чем пробелы. Этот тип экран использован для проверки составной совместимости, и быстро для того чтобы предсказать стабилность/срок годности при хранении, после кратко вызревания усилия. (Учтивость Образцов M.E. Lauer, F. Hoffmann-Ла Roche, Базеля, Швейцарии.)

Динамика

«Типичная» дисциплина для высокоскоростного AFM врем-resolved изучение динамических процессов на маштабе протеинов и ДНА. Это применение ответствено для большой части начального вникания как сделать AFMs более быстрой, пока поддерживающ усилия без разрушения подсказк-образца. Было открыно что было необходимо сделать cantilevers более малым. После этого будет необходимо включить пользу более малых cantilevers, просмотреть более быстро, и захватить данные более быстро. В этой охоте для скорости, было найдено что достижимые маштабы частоты кадров грубо с размерами cantilevers. Оно также маштабы с качеством данных, с количеством линий, и при приемлемая нерезкость пиксела причиненная свободно отслеживать (парашютировать). Достигать частот кадров больше чем 1fps типично достиган путем увеличивать ширину полосы частот воображения, и путем торговать качеством изображения для скорости. Для того НОП FastScan, котор нужно быть больше чем машина кино одиночн-цели, оно было важно для того чтобы иметь полное представление AFM на увеличенной ширине полосы частот, но мочь продвинуть разрешение обмена для скорости в путе другого высокоскоростного AFMs, и поддержать главное управление усилий подсказк-образца на высоких частотах сканирования.

На Диаграмму 3 показано 3 кадра от последовательности времени 2100 кадров, захваченной по норме 1 кадров в секунду, ДНА в буфферном разрешении проблемы, свободно прыгнуто к и отражающ на APS-обработанном субстрате слюды. Можно увидеть различные движения ДНА, включая «сползать» движение ДНА вдоль своего контура, и приблизительно перпендикулярно к направлению сканирования. Это показывает что вязка ДНА к субстрату свободно достаточно позволить ей двинуть, и диффузия не преобладано взад и вперед движением развертки подсказки AFM. Это должно положить хорошее учредительство для замечания более сложных систем образца, как комплексы Дна-протеина, ATP-управляемые системы, Etc.

Диаграмма 3. ДНА свободно прыгнутая к слюде обработанной APS-методом. TappingMode в буфферном разрешении проблемы. Зонд: Широкополосно-C. 1 Показанное frame/s. 3 из 2100 кадров, показывающ диффузию ДНА над 35 минутами. Это изучение динамики образца демонстрирует 1 воображение frame/s, с типичной, проектирует специфический обмен качества частоты кадров и изображения. Хороший отслеживать необходимо поддерживать, что уменьшил удар подсказки на свободно прыгнутом, утлом образце. (Учтивость Образца Y. Lyubchenko, UNIV. Ctr Небраски Медицинского., США.)

Будущие Применения Быстрого Воображения AFM

Идеалистическая придумка более быстрого воображения AFM почти как стара как AFM сам. Несколько вставок для специфических применений показывали что большие увеличения в скорости воображения AFM возможны. Более Высокая скорость AFM не была причалена как некоторый комплект применений, некоторыми областями исследований и на некоторых образцах, а с верой что одно о довольно всегда изображение более быстро, как бы не за счет качества, размера выборки или деликатности, практичности, или производственных затрат. Мы надеемся что более быстрый AFM раскроет вверх по новым зонам исследования над полным диапозоном применения, от по заведенному порядку промышленного к молекулярной биофизике. Значительно она включит исследователей к быстро и эффективно посмотреть и понять образец на nanoscale, используя ширину и наваристость содержания метода AFM.

О Bruker

Поверхности Bruker Nano обеспечивают Атомные продукты Микроскопа Усилия/Микроскопа Зонда Скеннирования (AFM/SPM) которые стоят вне от других имеющих на рынке систем для их робастных конструкции и легкия в использовании, пока поддерживающ самое высокое разрешение. Головка NANOS измеряя, которая часть всех наших аппаратур, использует уникально волоконнооптический интерферометр для измерять консольное отклонение, которое делает компакт настроения так что оно не большле чем стандартная задача микроскопа исследования.

Эта информация найденный, расмотрена и приспособлена от материалов обеспеченных Поверхностями Bruker Nano.

Для больше информации на этом источнике, пожалуйста посетите Поверхности Bruker Nano.

Date Added: Jun 20, 2012 | Updated: Jan 23, 2014

Last Update: 23. January 2014 11:27

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask regarding this article?

Leave your feedback
Submit