FEI-Firma Reißt die 1 Darstellungs-Sperre der Ångström-Hohen Auflösung - Neue Technologie nieder

FEI-Firma kündigte heute an, dass Wissenschaftler in der Nanotechnologiemitte der Firma die eine Ångströmbildauflösungssperre mit einem Durchstrahlungselektronenmikroskop 200kV niedergerissen haben (TEM). FEI glaubt, dass dieses das erste mal Bilder kann mit einer Auflösung von weniger als einem Ångström unter Verwendung der handelsüblichen Technologien direkt angesehen werden ist. Ein Ångström ist Zehntel eines nm an Größe, und ein nm ist eine Billionste eines Meters. Ein Ångström ist auch ungefähr Drittel die Größe eines Kohlenstoffatoms und ist eine Schlüsselabmessung für waagerecht ausgerichtete atomarforschung.

Mit der Fähigkeit, direkte Artefakt-freie Bilder von Atomen zu erreichen, sind die Klappen für die Forscher geöffnet worden, die in der Nanotechnologieentwicklung arbeiten, um Materialien an der höchsten Auflösung überhaupt zu erforschen. Die UnterÅngström Auflösung wurde unter Verwendung Tecnai F20 FEIS ST.-Durchstrahlungselektronenmikroskops, unter Verwendung der Technologien, die Bildauflösung mit den hoch entwickelten Elektronenoptikfähigkeiten verbessern, die von FEI und von seinem Partner entwickelt werden, CEO-Firma erzielt. Dieses aktiviert neue TEM-Techniken wie Rekonstruktion 3D mit Tomographie-, Scannenfühleranwendungen oder in-situbeobachtung von Probenmaterialantworten zu den Temperaturschwankungen, Druck- oder Chemikalienumgebung, alle mit UnterÅngström Auflösungen.

Experten in der Nanotechnologie haben die FEI-Leistung gehagelt. „Der erfolgreiche Gebrauch von einem Elektronenstrahlmonochromator, die Auflösung eines Cs-Korrigierten Elektronenmikroskops zu verbessern markiert einen bedeutenden Meilenstein für den Bereich der Elektronenmikroskopie,“ angegebener Dr. Michael O'Keefe der Nationalen Mitte der Elektronenmikroskopie in Berkeley, Kalifornien. „Theorie hat lang vorausgesagt, dass ein Monochromator in der Lage sein würde, die Auflösung des super-Doppelobjektivs über der Auflösung 1.4A hinaus zu drücken, die mit Cskorrektur allein demonstriert wurde. Jedoch sind die Schwierigkeiten, die in Implementierung eines Monochromators mit einbezogen werden, ohne die Darstellungsqualitäten des Elektronenstrahls zu kompromittieren, weithin bekannt. FEI verdient, für diese hervorragende Leistung beglückwünscht zu werden.“

Prof Dr. Hannes Lichte der Fähigkeit von Mathematik und von Naturwissenschaften, Institut von Zellen-Physik an Dresden-Universität in Deutschland, kommentierte, „Zum ersten Mal, die Autoren zeigen überzeugend das in einem Cs-Korrigierten TEM durch die zusätzliche Reduzierung von Energie ausgebreitet unter Verwendung eines Gewehrmonochromators, sie ausdehnen die Gesamtinformationsgrenze, um als 0.1nm beträchtlich zu verbessern. Wie offensichtlich von ihren diffractograms, sind sie nicht weg von der theoretischen Grenze auf ungefähr 0.07nm in mindestens irgendeiner Richtung weit. Glückwünsche!“

„FEI bleibt der Weltmarktführer in der Darstellung der hohen Auflösung und ein wichtiger Enabler für die wachsende Nanotechnologieindustrie der Welt,“ sagte Vahe Sarkissian, Vorsitzender FEIS, Vorsitzender des Vorstandes. „In jedem Markt, den wir dienen, entbinden wir die Hilfsmittel, die benötigt werden, um neue Produkte und Einheiten zu erforschen und zu entwickeln. Unsere Hilfsmittel fahren fort, Nano--gesteuerte Märkte zu dienen, während neue Produkte in den Handel gebracht werden und Großserienherstellung benötigt prozesskontrolliertes und Diagnosen am nanoscale.“

Dr. Maximales Haider, Mitbegründer und Direktor von CEOS, sagte, „ein langfristiger laufender Traum, UnterÅngström Auflösung zu erzielen, ist jetzt erreicht worden mit einem 200 KV TEM ausgerüstet mit einem Cs-Korrektor (entwickelt von CEOS) und einem Monochromator (entwickelt durch FEI). Dieser Erfolg ist das Ergebnis der Kombination von hoch entwickelten Bauteilen in ein Instrument, ein beispielloses Niveau der Auflösung zu erreichen.“ Firma CEOS (Korrigierte Elektron-Optische Anlagen) von Heidelberg, Deutschland, konzentriert sich auf die Entwicklung von hoch entwickelten Korrekturanlagen für hochauflösende Elektronenmikroskopie.

„Wir sind auf diesen Meilenstein, der das Darstellung für sogar größere Durchbrüche Hintergrund,“ sagten Dr. Rob Fastenau, Senior-Vizepräsident der Elektronenoptik-Abteilung FEIS stolz. „Diese Leistung hängt direkt mit unserer nachgewiesenen Verpflichtung gegenüber hoch entwickelter Elektronenmikroskopie zusammen. FEI war das erste, zum von TEM mit Cs-Korrektoren Ende der neunziger Jahre zu kombinieren, und FEI war das erste im Jahre 2000 mit nachgewiesener Monochromatortechnologie. Heute ist FEI das erste, zum dieser neuen Technologien in Ein-einfach-zugebrauch Anlage zu kombinieren, die niederreißt die Ångströmsperre.“

 Am 31. März 2004 Bekannt gegeben

Date Added: Apr 5, 2004 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 12. June 2013 15:39

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