La Società di FEI Eliminare la 1 Barriera Di alta risoluzione della Rappresentazione dell'Angstrom - Nuova Tecnologia

La Società di FEI ha annunciato oggi che gli scienziati al centro della nanotecnologia della società hanno eliminare l'una barriera di risoluzione di immagine dell'Angstrom con un microscopio elettronico della trasmissione 200kV (TEM). FEI crede che questa sia la prima volta immagini possa direttamente essere osservata con una risoluzione di meno di un Angstrom facendo uso delle tecnologie disponibili nel commercio. Un Angstrom è un decimo di un nanometro nella dimensione e un nanometro è un bilionesimo di un metro. Un Angstrom è egualmente circa un terzo della dimensione di un atomo di carbonio ed è una dimensione chiave per la ricerca livellata atomica.

Con la capacità di raggiungere le immagini artefatte artefatto dirette degli atomi, le porte sono state aperte per i ricercatori che lavorano nello sviluppo di nanotecnologia per esplorare mai i materiali al più di alta risoluzione. La risoluzione dell'sotto-Angstrom è stata raggiunta facendo uso del microscopio elettronico della trasmissione della ST del Tecnai F20 di FEI, facendo uso delle tecnologie che migliorano la risoluzione di immagine con le capacità avanzate dell'ottica di elettrone sviluppate da FEI e dal suo partner, Società dei CEI. Ciò permette alle tecniche novelle di TEM quale ricostruzione 3D con le applicazioni della sonda di scansione, di tomografia, o osservazione in situ delle risposte dell'esemplare alle variazioni nell'ambiente della temperatura, di sforzo o del prodotto chimico, tutto con le risoluzioni dell'sotto-Angstrom.

Gli Esperti in nanotecnologia hanno salutato il risultato di FEI. “Il riuscito uso di un monocromatore del fascio di elettroni migliorare la risoluzione di un microscopio elettronico Cs-Corretto traccia una pietra miliare importante per il campo di microscopia elettronica,„ Dott. indicato Michael O'Keefe del Centro Nazionale di Microscopia Elettronica In Berkeley, California. “La Teoria lungamente ha predetto che un monocromatore potrebbe spingere la risoluzione della lente del super-gemello oltre la risoluzione 1.4A dimostrata con la correzione del Cs da solo. Tuttavia, le difficoltà in questione nell'implementazione di un monocromatore senza compromettere le qualità della rappresentazione del fascio di elettroni sono ben note. FEI merita di congratularsi per questo risultato eccezionale.„

Prof. il Dott. Hannes Lichte della Facoltà di Matematica e di Scienze Naturali, Istituto di Fisica della Struttura all'Università di Dresda in Germania, ha commentato Per la prima volta, “, gli autori in modo convincente mostra quello in un TEM Cs-Corretto tramite riduzione supplementare di energia sparsa facendo uso di un monocromatore della pistola, essi estende il limite totale di informazioni per migliorare significativamente che 0.1nm. Come evidente dai loro diffractograms, non sono distanti il limite teorico circa di 0.07nm almeno in una certa direzione. Congratulazioni!„

“FEI rimane il leader mondiale nella rappresentazione di alta risoluzione e un enabler importante per l'industria crescente della nanotecnologia del mondo,„ ha detto Vahe Sarkissian, il presidente di FEI, presidente e direttore generale. “In ogni servizio che serviamo, stiamo consegnando gli strumenti stati necessari per ricercare e sviluppare i nuovi prodotti e le unità. I Nostri strumenti continueranno a servire dai i servizi guidati da nana mentre i nuovi prodotti sono commercializzati e la fabbricazione in grande quantità richiede il controllo dei processi ed i sistemi diagnostici al nanoscale.„

Il Dott. Haider Massimo, co-fondatore e Amministratore Delegato dei CEI, ha detto, “Un sogno in corso da sempre, di raggiungere la risoluzione dell'sotto-Angstrom, ora è stato raggiunto con i 200 chilovolt TEM fornita di un Cs-Correttore (sviluppato dai CEI) e di un monocromatore (sviluppato da FEI). Questo successo è il risultato della combinazione di componenti avanzate in uno strumento, raggiungere un livello senza precedenti di risoluzione.„ La Società dei CEI (Sistemi Ottici Corretti dell'Elettrone) di Heidelberg, Germania, sta concentrandosi sullo sviluppo dei sistemi avanzati di correzione per microscopia elettronica ad alta definizione.

“Siamo fieri di questa pietra miliare che imposta la fase per ancora le maggiori innovazioni,„ abbiamo detto il Dott. Rob Fastenau, vice presidente senior di Divisione dell'Ottica di Elettrone di FEI. “Questo risultato direttamente è collegato con il nostro impegno provato a microscopia elettronica avanzata. FEI era il primo per combinare TEM con i Cs-Correttori verso la fine degli anni 90 e FEI era il primo nel 2000 con la tecnologia collaudata di monocromatore. Oggi, FEI è il primo per combinare queste tecnologie avanzate nel sistema di un-facile--uso che eliminare la barriera dell'Angstrom.„

 31 marzo 2004 Inviato

Date Added: Apr 5, 2004 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 12. June 2013 15:41

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