FEI Company Breaks de 1 Angstrom alta resolução Barreira Imaging - Nova Tecnologia

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FEI Company anunciou hoje que os cientistas no centro da empresa de nanotecnologia ter quebrado a um Angstrom barreira resolução de imagem com um microscópio de 200KV eletrônica de transmissão (TEM). FEI acredita que esta é a primeira vez que as imagens podem ser diretamente visualizado com uma resolução de menos de um Angstrom uso de tecnologias disponíveis no mercado. Um Angstrom é um décimo de um nanômetro de tamanho, e um nanômetro é um bilionésimo de um metro. Um Angstrom é também aproximadamente um terço do tamanho de um átomo de carbono e é uma dimensão essencial para a investigação a nível atômico.

Com a capacidade de atingir direta artefato sem imagens de átomos, as portas foram abertas para os investigadores que trabalham no desenvolvimento de nanotecnologia para explorar materiais na resolução mais alta que nunca. A resolução sub-Angstrom foi realizada com Tecnai FEI F20 ST microscópio eletrônico de transmissão , utilizando tecnologias que melhoram a resolução de imagem com recursos avançados de elétrons óptica desenvolvido pela FEI e pelo seu sócio, empresa CEOS. Isso permite que técnicas TEM romance, como a reconstrução 3D com tomografia, aplicações de digitalização sonda, ou na observação in situ de amostra de respostas a variações de ambiente de estresse de temperatura, ou químicos, com todos os sub-Angstrom resoluções.

Especialistas em nanotecnologia saudaram o FEI conquista. "O sucesso do uso de um feixe de elétrons monocromador para melhorar a resolução de um microscópio de elétrons Cs corrigida representa um marco importante para o campo da microscopia eletrônica", declarou o Dr. Michael O'Keefe, do Centro Nacional de Microscopia Eletrônica, em Berkeley, Califórnia . "A teoria tem muito tempo previu que um monocromador seria capaz de empurrar a resolução da lente super-twin além da resolução 1.4A demonstrado com correção de Cs-alone. No entanto, as dificuldades envolvidas na implementação de um monocromador, sem comprometer as qualidades de imagem do feixe de elétrons são bem conhecidos. FEI está de parabéns por esta excelente conquista. "

Prof Dr. Hannes Lichte da Faculdade de Matemática e Ciências Naturais, Instituto de Física Estrutura em Dresden University, na Alemanha, comentou: "Pela primeira vez, os autores mostram de forma convincente que, em um TEM Cs corrigido pela redução adicional de propagação de energia usando um monocromador arma, eles estendem o limite total de informações significativamente melhor do que 0,1 nm. Como é evidente a partir de sua difratogramas, eles não estão muito longe do limite teórico de cerca de 0.07nm em pelo menos alguma direção. Parabéns! "

"FEI continua a ser o líder mundial em imagem de alta resolução e um facilitador importante para a indústria mundial de nanotecnologia crescendo", disse Vahe Sarkissian, FEI 's chairman, presidente e diretor executivo. "Em todos os mercados em que atuamos, estamos oferecendo as ferramentas necessárias para pesquisar e desenvolver novos produtos e dispositivos. Nossas ferramentas continuará a servir nano-driven mercados como novos produtos são comercializados e alto volume de fabricação requer controle de processo e diagnóstico em nanoescala. "

Dr. Max Haider, co-fundador e Diretor Gerente da RAA, disse: "Um sonho de longa data em curso, para alcançar sub-Angstrom resolução, foi agora atingido com um TEM 200 kV equipado com um (Cs-corrector desenvolvido pelo CEOS ) e um monocromador (desenvolvido pela FEI ). Este sucesso é o resultado da combinação de componentes avançados em um único instrumento, para atingir um nível sem precedentes de resolução. " CEOS (Corrigida Sistemas Electron Optical) Companhia de Heidelberg, na Alemanha, está se concentrando no desenvolvimento de sistemas avançados para correção de alta resolução da microscopia eletrônica.

"Estamos orgulhosos deste marco, que prepara o terreno para avanços ainda maiores", disse Rob Fastenau, vice-presidente sênior da FEI 's Electron Optics Divisão. "Esta conquista está diretamente relacionado ao nosso compromisso comprovado com microscopia eletrônica avançado. FEI foi o primeiro a combinar TEM com Cs-corretores no final dos anos 90, e FEI foi o primeiro em 2000 com a tecnologia monocromador comprovado. hoje, FEI é a primeira a combinar estas tecnologias avançadas em um fácil de usar sistema que rompe a barreira Angstrom ".

Postado 31 mar 2004

Date Added: Apr 5, 2004

Last Update: 5. October 2011 10:33

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