FEI 公司冲破 1 个埃高分辨率想象障碍 - 新技术

FEI 公司今天宣布了科学家在公司的纳米技术中心冲破了与 200kV 传输电子显微镜的一个埃分辨率障碍 (TEM)。 FEI 相信使用商业可用的技术,这是图象可以用少于一埃的解决方法直接地第一次查看。 一埃在大小上是一毫微米的十分之一,并且一毫微米是十亿分之一分之一仪表。 一埃也是大约三分之一碳原子的范围并且是基本级别研究的关键维数。

以这个能力获得原子的直接人工制品自由的图象,门为工作在纳米技术发展的研究员被打开了测试材料在最高分辨率。 使用 FEI 的 Tecnai F20 ST 传输电子显微镜,子埃解决方法达到,使用改进与其合作伙伴开发的由 FEI 和先进的电子光学功能的分辨率的技术, CEOS 公司。 这启用新颖的 TEM 技术例如 3D 与 X线体层照相术,浏览探测应用的重建或者标本回应的在原处观察对温度变化的、重点或者化学制品环境,全部与子埃解决方法。

专家在纳米技术方面称赞了 FEI 成绩。 “对电子束单色仪的成功的使用改进一台电缆敷设船被更正的电子显微镜的解决方法指示电子显微镜术的域的一个主要重要事件”,电子显微镜术的国家中心的指明的博士迈克尔奥基夫在伯克利,加利福尼亚的。 “原理长期预计单色仪能推进超双透镜的解决方法在这个 1.4A 解决方法之外的展示与单独电缆敷设船更正。 然而,在单色仪的实施介入的困难,无需减弱电子束的想象质量是著名的。 FEI 该当为此未清成绩祝贺”。

数学和自然科学,在德累斯顿大学的结构物理学院系的 Hannes Lichte 博士教授在德国,在电缆敷设船被更正的 TEM 比 0.1nm 评论了, “第一次,作者令人信服地显示那由使用枪单色仪分布的能源的另外的减少,他们扩大总信息限额极大改善。 如明显从他们的 diffractograms,他们不大约是更的在至少某个方向的 0.07nm 理论上的限额。 祝贺!”

“FEI 在高分辨率想象保持世界领导人,并且世界的生长纳米技术行业的一个重要支持因素”, Vahe Sarkissian, FEI 的主席,总裁兼首席执行官说。 “在我们服务的每个市场上,我们传送必要的工具研究和发展新产品和设备。 我们的工具将继续服务纳诺主导的市场,当新产品商业化,并且大容积制造要求程序控制和诊断在 nanoscale”。

总经理博士最大 Haider、共同创立者和 CEOS,说, “一个长期持续的梦想,达到子埃解决方法,现在获得了与一 200 kV TEM 装备用电缆敷设船纠正者 (发展由 CEOS) 和单色仪 (开发由 FEI)。 此成功是先进的要素的组合的结果到一台仪器,获得解决方法的一个史无前例的级别”。 海得尔堡,德国 CEOS (被更正的电子光学系统) 公司,集中先进的更正系统的发展高分辨率电子显微镜术的。

“我们为此重要事件为更加巨大的突破准备条件的感到骄傲”,说 Rob Fastenau, FEI 的电子光学分部的资深副总裁博士。 “此成绩直接地与我们的对先进的电子显微镜术的证明的承诺有关。 FEI 是 90年代末结合 TEM 的第一个与电缆敷设船纠正者,在 2000年,并且 FEI 是第一与证明的单色仪技术。 今天, FEI 是结合在冲破埃障碍的容易对使用系统的这些先进技术的第一个”。

 张贴 2004年 3月 31日

Date Added: Apr 5, 2004 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 12. June 2013 15:31

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