FEI 公司衝破 1 個埃高分辨率想像障礙 - 新技術

FEI 公司今天宣佈了科學家在公司的納米技術中心衝破了與 200kV 傳輸電子顯微鏡的一個埃分辨率障礙 (TEM)。 FEI 相信使用商業可用的技術,這是圖像可以用少於一埃的解決方法直接地第一次查看。 一埃在大小上是一毫微米的十分之一,并且一毫微米是十億分之一分之一儀表。 一埃也是大約三分之一碳原子的範圍并且是基本級別研究的關鍵維數。

以這個能力獲得原子的直接人工製品自由的圖像,門為工作在納米技術發展的研究員被打開了測試材料在最高分辨率。 使用 FEI 的 Tecnai F20 ST 傳輸電子顯微鏡,子埃解決方法達到,使用改進與其合作夥伴開發的由 FEI 和先進的電子光學功能的分辨率的技術, CEOS 公司。 這啟用新穎的 TEM 技術例如 3D 與 X線體層照相術,瀏覽探測應用的重建或者標本回應的在原處觀察對溫度變化的、重點或者化學製品環境,全部與子埃解決方法。

專家在納米技術方面稱讚了 FEI 成績。 「對電子束單色儀的成功的使用改進一臺電纜敷設船被更正的電子顯微鏡的解決方法指示電子顯微鏡術的域的一個主要重要事件」,電子顯微鏡術的國家中心的指明的博士邁克爾奧基夫在伯克利,加利福尼亞的。 「原理長期預計單色儀能推進超雙透鏡的解決方法在這個 1.4A 解決方法之外的展示與單獨電纜敷設船更正。 然而,在單色儀的實施介入的困難,无需減弱電子束的想像質量是著名的。 FEI 該當為此未清成績祝賀」。

數學和自然科學,在德累斯頓大學的結構物理學院系的 Hannes Lichte 博士教授在德國,在電纜敷設船被更正的 TEM 比 0.1nm 評論了, 「第一次,作者令人信服地顯示那由使用槍單色儀分佈的能源的另外的減少,他們擴大總信息限額極大改善。 如明顯從他們的 diffractograms,他們不大約是更的在至少某個方向的 0.07nm 理論上的限額。 祝賀!」

「FEI 在高分辨率想像保持世界領導人,并且世界的生長納米技術行業的一個重要支持因素」, Vahe Sarkissian, FEI 的主席,總裁兼首席執行官說。 「在我們服務的每個市場上,我們傳送必要的工具研究和發展新產品和設備。 我們的工具將繼續服務納諾主導的市場,當新產品商業化,并且大容積製造要求程序控制和診斷在 nanoscale」。

總經理博士最大 Haider、共同創立者和 CEOS,說, 「一個長期持續的夢想,達到子埃解決方法,現在獲得了與一 200 kV TEM 裝備用電纜敷設船糾正者 (發展由 CEOS) 和單色儀 (開發由 FEI)。 此成功是先進的要素的組合的結果到一臺儀器,獲得解決方法的一個史無前例的級別」。 海得爾堡,德國 CEOS (被更正的電子光學系統) 公司,集中先進的更正系統的發展高分辨率電子顯微鏡術的。

「我們為此重要事件為更加巨大的突破準備條件的感到驕傲」,說 Rob Fastenau, FEI 的電子光學分部的資深副總裁博士。 「此成績直接地與我們的對先進的電子顯微鏡術的證明的承諾有關。 FEI 是 90年代末結合 TEM 的第一个與電纜敷設船糾正者,在 2000年,并且 FEI 是第一與證明的單色儀技術。 今天, FEI 是結合在衝破埃障礙的容易對使用系統的這些先進技術的第一个」。

 張貼 2004年 3月 31日

Date Added: Apr 5, 2004 | Updated: Jun 11, 2013

Last Update: 12. June 2013 15:33

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