FEI公司突破1埃高分辨率成像屏障 - 新技術

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FEI公司宣布,今天,該公司的納米技術中心的科學家們已經破碎的之一埃形象,一個200KV傳輸電子顯微鏡(TEM)分辨率障礙。費認為這首次的圖像可以被直接不到一埃的分辨率觀看使用市售的技術。 1埃是一個納米大小的十分之一,一納米是一米的十億分之一。 1埃是一個碳原子的大小,大約三分之一是一個原子水平上研究的關鍵方面。

隨著能力達到原子直接無瑕疵的圖像,門被打開研究人員在納米科技的發展工作,探索在有史以來的最高分辨率材料。分埃決議取得使用費的Tecnai F20的ST透射電子顯微鏡 ,採用的技術,這與發達國家的先進的電子光學能力提高圖像分辨率費和其合作夥伴,地球觀測衛星公司。這使得新穎的透射電子顯微鏡技術,如與斷層的三維重建,掃描探針的應用,或在原位觀察試樣在溫度,壓力或化學環境的變化,所有分埃決議。

在納米技術領域的專家們譽為費的成就。表示:“成功利用電子束單色提高一個 CS校正電子顯微鏡的分辨率,標誌著一個電子顯微鏡領域的一個重要里程碑,”國家電子顯微鏡中心博士邁克爾奧基夫在加州大學伯克利分校, 。 “理論早就預言單色器將能夠推動超越銫校正單獨展示了1.4A分辨率的超雙鏡頭的分辨率。然而,沒有妥協的成像素質,在參與實施單色的困難電子束是眾所周知的。 值得為這位傑出的成就表示祝賀。 “

漢納斯 Lichte結構物理研究所在德國德累斯頓大學,數學和自然科學學院,教授,博士評論說,“這是第一次,作者令人信服地表明,在進一步降低能源蔓延CS校正透射電鏡他們使用槍單色,延長顯著大於 0.1nm更好的信息總量限制從他們 diffractograms明顯,他們沒有關閉約 0.07nm的理論極限至少在一些方向。恭喜你!“

“飛仍然是在高分辨率成像的世界領先地位,為世界上越來越多的納米技術產業的重要推動者,Vahe薩爾基相 ,“費”的董事長,總裁兼首席執行官。 “在我們服務的每一個市場,我們提供的研究和開發新產品和新設備所需的工具,我們的工具將繼續擔任納米驅動的市場,新產品的商品化和大批量製造過程控制和診斷需要在納米。 “

最大海德爾,共同創始人和地球觀測衛星委員會的常務董事,博士說,“長時間持續的夢想,實現子埃分辨率,現已達到 200千伏透射電子顯微鏡配備有一個 CS校正(由地球觀測衛星開發)和一個單色(由開發 )。這種成功的高級組件組合到一台儀器的結果,達到一個前所未有的水平分辨率。 “地球觀測衛星(校正電子光學系統),德國海德堡公司,是專注於先進的糾錯系統的高分辨電子顯微鏡的發展。

“我們這一具有里程碑意義的這台舞台更大的突破而感到驕傲,說:”羅布Fastenau博士,高級副總裁費的電子光學部。 “這一成就是我們的證明承諾先進的電子顯微鏡直接相關。 是到結合銫,校正在90年代後期的TEM,和是在2000年證明單色技術第一。如今費是先結合這些先進技術,在一個易於使用的系統,打破了埃障礙。“

發表於2004年3月 31

Date Added: Apr 5, 2004

Last Update: 24. October 2011 22:03

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