Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

Met Een Laag Bedekt Uiteinde AFM - Hoge Aspectverhouding Met verlengde levensduur van Team Nanotec

De Uiteinden zijn met een laag bedekt met geleidend, slijtvast metaalcarbide.
Vlotte en goed bepaalde uiteindeoppervlakte.

Specificaties:
Straal na het met een laag bedekken:
Volledige kegelhoek:
~ 50 NM
< 10="">

Beschikbare cantilevers:
l = 125 µm, C = 40 N/m, FO = kHz 300
l = 225 µm, C = 3.0 N/m, FO = kHz 75

Last Update: 3. February 2012 16:20

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this equipment listing?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment