J.A. Woollam AlphaSE Spektralanalytisches Ellipsometer

J.A. Woollam AlphaSE Spektralanalytisches Ellipsometer

Für routinemäßige Maße der dünnen Dicke und des Brechungskoeffizienten, ist das Alpha-SE® eine große Lösung. Konstruiert für Benutzerfreundlichkeit: montieren Sie einfach eine Probe, wählen das Baumuster, das Ihren Film übereinstimmt, und Druckereimaßnahme. Sie haben Ergebnisse innerhalb der Sekunden.

Warum ein AlphaSE?

Bedienungsfreundlich
Drucktastenoperation mit hoch entwickelter Software, die um der Arbeit für Sie sich kümmert.

Stark
Nachgewiesene spektralanalytische ellipsometer Technologie gibt Ihnen Stärke und Index mit viel höherer Sicherheit als andere Techniken.

Flexibel
Arbeiten Sie mit Ihren Materialien - Dielektrika, Halbleiter, organische Produkte und mehr.

Erschwinglich
Die Leistung von spektralanalytischem ellipsometry zu einem angemessenen Preis.

Schnell
Hunderte von den Wellenlängen montierten gleichzeitig in Sekunden - unmittelbare Ergebnisse.

Last Update: 3. February 2012 16:23

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