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J.A. Woollam 阿爾法 SE 分光鏡 Ellipsometer

對於薄膜厚度和 R.i. 的定期評定,阿爾法SE® 是一個巨大解決方法。 設計為易用: 请掛接一個範例,選擇符合您的影片的設計和新聞評定。 您在幾秒鐘內有結果。

為什麼阿爾法 SE ?

易用
與照料您的工作的先進的軟件的電鈕運算。

強大
證明的分光鏡 ellipsometer 技術比其他技術產生你們倆厚度和索引肯定更高的。

靈活
與您的材料 - 電介質,半導體,有機物一起使用和更。

價格合理
功率的分光鏡 ellipsometry 以合理的價格。

快速
數百波長在幾秒鐘 - 直接結果內同時收集了。

Last Update: 3. February 2012 16:18

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