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J.A. Woollam IR-VASE Ellipsometer Espectroscópico

El IR-VASE® es el primer y solamente el ellipsometer espectroscópico para revestir el rango espectral a partir del 2 a 30 wavenumbers de los micrones (333 a 5000). El IR-VASE puede determinar n y k para los materiales sobre el ancho entero del rango espectral sin extrapolar datos fuera del rango medido, como con un análisis de Kramers-Kronig. Como otros ellipsometers de Woollam, el IR-VASE es perfecto para las películas finas o los materiales a granel incluyendo los dieléctricos, los semiconductores, los polímeros, y los metales.

¿Por Qué un IR-VASE?

  • Caracterización no destructiva
    El IR-VASE ofrece mediciones sin contacto de muchas diversas propiedades materiales incluyendo los constantes ópticos del espesor, composición material, vinculación química, dopando la concentración, y más. Las Mediciones no requieren vacío y se pueden utilizar para estudiar los interfaces líquidos/sólidos comunes en aplicaciones de la biología y de la química.
  • Ninguna Línea De Fondo o Muestra de Referencia Requerida
    Ellipsometry es una técnica de la modulación que no requiere exploraciones o muestras de referencia mantener exactitud. Incluso las muestras que son más pequeñas que el diámetro del haz pueden ser medidas porque el haz entero no necesita cerco.
  • Medición Altamente Exacta
    La calibración Patentada y los procedimientos de adquisición de datos quitan efectos de elementos ópticos imperfectos para proporcionar a mediciones exactas de Ø y de Ä.

Last Update: 3. February 2012 16:35

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