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J.A. Woollam IR-VASE Ellipsometer Spectroscopique

L'IR-VASE® est le premier et seulement l'ellipsometer spectroscopique pour couvrir le domaine spectral de 2 à 30 wavenumbers des microns (333 à 5000). L'IR-VASE peut déterminer N et k pour des matériaux au-dessus de la largeur entière du domaine spectral sans extrapoler des données en dehors du domaine mesuré, comme avec une analyse de Kramers-Kronig. Comme d'autres ellipsometers de Woollam, l'IR-VASE est parfait pour des films minces ou des matériaux en vrac comprenant des diélectriques, des semi-conducteurs, des polymères, et des métaux.

Pourquoi un IR-VASE ?

  • Caractérisation non destructive
    L'IR-VASE offre des mesures de non contact de beaucoup de différentes propriétés matérielles comprenant des constantes optiques d'épaisseur, composition matérielle, métallisation chimique, dopant la concentration, et plus. Les Mesures n'exigent pas l'aspirateur et peuvent être utilisées pour étudier surfaces adjacentes liquides/solides communes dans des applications de biologie et de chimie.
  • Aucune Spécification De Base ou Échantillon de Référence Requis
    Ellipsometry est une technique de modulation qui n'exige pas des échographies ou des échantillons de référence de mettre à jour l'exactitude. Même des échantillons qui sont plus petits que le diamètre de poutre peuvent être mesurés parce que la poutre entière n'a pas besoin d'être rassemblée.
  • Hautement Mesure Précise
    Les procédures Brevetées d'étalonnage et d'acquisition de données enlèvent des effets des éléments optiques imparfaits pour fournir des mesures précises de Ø et d'Ä.

Last Update: 3. February 2012 16:22

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