J.A. Woollam IR-VASE 分光 Ellipsometer

IR-VASE® は 2 からの 30 ミクロン (333 から 5000 wavenumbers) のにスペクトル領域をカバーする第 1 および分光 ellipsometer だけです。 IR-VASE は Kramers-Kronig の分析の同じように測定された範囲の外のデータを、外挿法で推定しないでスペクトル領域の全体の幅上の材料のための n そして k を両方定めることができます。 Woollam の他の ellipsometers のように、 IR-VASE は誘電体、半導体、ポリマーおよび金属を含む薄膜か第一次製品のために完全です。

なぜ IR-VASE か。

  • 非破壊的な性格描写
    IR-VASE は厚さの光学定数、物質的な構成、化学結合を含む多くの異なった物質的な特性の無接触測定を提供しま、集中および多くを添加します。 測定は真空を必要としないし、生物学および化学アプリケーションで共通液体/固体インターフェイスを調査するのに使用することができます。
  • 必要なベースラインか参照サンプル無し
    Ellipsometry はスキャンか参照サンプルが正確さを維持するように要求しない変調技術です。 ビーム直径より小さいサンプルは全体のビームが集められる必要はないので測定することができます。
  • 極めて正確な測定
    特許を取られた口径測定およびデータ収集プロシージャは Ø および Ä の正確な測定を提供するために不完全な光学要素の効果を取除きます。

Last Update: 3. February 2012 16:26

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