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J.A. Woollam IR-VASE 分光镜 Ellipsometer

IR-VASE® 是报道从 2 的光谱范围的仅第一个和分光镜 ellipsometer 到 30 微米 (333 到 5000 wavenumbers)。 IR-VASE 可能确定 n 和 k 材料的在这个光谱范围的整个宽度,无需外推数据在被评定的范围之外,与 Kramers-Kronig 分析。 象其他 Woollam ellipsometers, IR-VASE 对薄膜或粒状材料是理想的包括电介质、半导体、聚合物和金属。

为什么 IR-VASE ?

  • 非破坏性的描述特性
    IR-VASE 提供许多不同的有形资产的没有接触的评定包括厚度光学常数,物质构成,化工接合,掺杂浓度和更多。 评定不要求真空,并且可以使用学习液体/固定的界面公用在生物和化学应用。
  • 没有需要的草拟或参考样品
    Ellipsometry 是不要求扫描或参考样品维护准确性的模块化技术。 小于射线直径的范例可以被评定,因为整个射线不需要收集。
  • 极为准确的评定
    给予专利的定标和数据收集程序取消不完美的光学要素的作用提供 Ø 和 Ä 的准确评定。

Last Update: 3. February 2012 16:17

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