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J.A. Woollam M 2000 串联分光镜 Ellipsometers

分光镜 ellipsometers M-2000 线路被设计适应薄膜描述特性不同的需要。 一先进的光学设计,宽光谱范围和快速数据收集做它一个非常强大和多才多艺的工具。

M-2000 提供速度和准确性。 我们的给予专利的 RCE 技术结合转动的补偿器 Ellipsometry 以高速 CCD 检测从整个光谱 (数百波长) 收集数据在一小部分与大多配置的一秒钟。

M-2000 正确地是第一 ellipsometer 擅长在一切从原地监控和程序控制对大区均一映射和通用薄膜描述特性。

为什么 M-2000 ?

  • 先进的 Ellipsometer 技术
    M-2000 使用我们的给予专利的 RCE (转动的补偿器 ellipsometer) 技术达到高精确度和精确度。
  • 快速光谱检测
    RCE 设计是与先进的 CCD 检测兼容同时评定所有波长。
  • 宽光谱范围
    此 ellipsometer 收集 700 个波长从紫外到近红外 - 同时。
  • 灵活的系统综合化
    模件光学设计, M-2000 在可以附有直接地您的处理房间或配置我们的任一个桌面基础。
  • 准确性
    先进的设计保证所有范例的准确 ellipsometry 评定。

Last Update: 3. February 2012 16:17

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